申请/专利权人：武汉莱创德技术有限公司

申请日：2023-02-02

公开（公告）日：2024-01-26

公开（公告）号：CN116094590B

主分类号：H04B10/079

分类号：H04B10/079

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.01.26#授权;2023.05.26#实质审查的生效;2023.05.09#公开

摘要：本发明公开了一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，通过单独搭建一个Tx_fault检测电路，与光模块现有资源相配合来完成Tx_Fault检测、上报及清除，摆脱对于驱动芯片Tx_Fault检测功能的依赖性，同时需要更快的反应时间，以满足标准以及客户需求。摆脱了对于驱动芯片Tx_Fault检测功能的依赖性，同时摒弃过去用软件监控Tx_Fault状态时需要时间过长、无法满足标准及客户需求的弊端。通过监控MPD的电压状态，用比较器来判断光模块发射部分是否异常，同时配合MCU内部资源，通过硬件手段极大的缩短了Tx_Fault的检测、上报及清除所用时间。并提供多种资源替代方案，避免了单片机和驱动芯片资源不足或没有被充分利用的问题，拥有极大灵活性。

主权项：1.一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法，其中：A、检测方法为：将有Tx_Fault检测功能的激光器驱动芯片LD_Driver的Fault接到MCU的Driver_Fault；光模块发射部分故障时，激光器光功率会变小甚至无光，此时MPD的背光电流会瞬间减小，经过采样电阻的电压也会减小，当电压小于VREF时，比较器U1的输出电平为高电平，此高电平信号MCU_Fault即为检测到的光模块内部发射机的故障信号；B、上报方法为：在MCU内部，Driver_Fault和MCU_Fault接到逻辑门logic_3的输入，逻辑门logic_3的输出接到逻辑门logic_1的输入A1以及逻辑门logic_2的输入A2，硬件Tx_disable信号H_dis以及软件Tx_disable信号S_dis接到逻辑门logic_0的输入，主机信号host_signal接到逻辑门logic_1的输入B1，该主机信号可用于Tx_Fault的清除、锁存，比较器输出的高电平信号Fault接到逻辑门logic_1的输入A1以及逻辑门logic_2的输入A2，逻辑门logic_1的输出则接到MCU外部，与光模块金手指的Tx_Fault连接，同时逻辑门logic_0的输出Disable接到逻辑门logic_2的输入B2，逻辑门logic_2的输出接到MCU外部，与激光器驱动芯片的Driver_Dis信号相连接，用来关闭或者打开激光器；当主机并没有给光模块Tx_disable命令时，硬件Tx_disable信号H_dis以及软件Tx_disable信号S_dis都为低，逻辑门logic_0的输出Disable也为低，此时当检测到激光器故障时，比较器U1的输出MCU_Fault或者LD_Driver的Driver_Fault变成高电平，逻辑门logic_3的输出Fault也会变为高，此时MCU中的Tx_Fault也会立刻变为高电平，上报给主机，同时使逻辑门logic_2的输出Driver_Dis信号变为高电平，关闭激光器以保护电路，同时，MCU检测到Tx_Fault变成高电平的时候，会立刻更改软件寄存器中关于Tx_Fault的状态为高，此为Tx_Fault的上报；C、清除方法为：当Tx_Fault信号出现的时候，可以通过主机信号host_signal来清除Tx_Fault。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉莱创德技术有限公司 一种光模块Tx_Fault快速检测、上报及清除的方法

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