申请/专利权人：TCL华星光电技术有限公司

申请日：2023-07-11

公开（公告）日：2024-02-06

公开（公告）号：CN117523325A

主分类号：G06V10/766

分类号：G06V10/766;G06V10/774;G06V10/20;G06T3/4007;G06N20/00;G06F3/147;G09G3/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要：本申请公开了一种Demura补偿效果检测方法、装置、设备及存储介质。Demura补偿效果检测方法包括：获取待测面板中每个像素的第一补偿差值，将每个第一补偿差值输入预先设置的预测模型，获取对应像素的补偿效果预测值，基于各个像素的补偿效果预测值，对待测面板的Demura补偿效果进行预测。本申请能够直接利用待烧录数据进行线性插值还原，并根据还原数据与原始补偿数据的差值，来预测补偿效果，从而无需等待Demura处理完成，可以实现与Demura处理并行作业，进而缩短整体作业时间，提高生产效率。

主权项：1.一种Demura补偿效果检测方法，其特征在于，包括：获取待测面板中每个像素的第一补偿差值，所述第一补偿差值为第一还原补偿值与第一原始补偿值的差值，所述第一还原补偿值是对所述待测面板的待烧录数据进行线性插值还原后得到的对应像素的补偿值，所述第一原始补偿值是所述待测面板的原始补偿数据中对应像素的补偿值；将每个所述第一补偿差值输入预先设置的预测模型，获取对应像素的补偿效果预测值，所述预测模型包括第一补偿差值与补偿效果预测值之间的映射关系；基于各个像素的补偿效果预测值，对所述待测面板的Demura补偿效果进行预测。

全文数据：

权利要求：

百度查询： TCL华星光电技术有限公司 Demura补偿效果检测方法、装置、设备及存储介质

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