申请/专利权人：北京物芯科技有限责任公司

申请日：2023-12-19

公开（公告）日：2024-02-06

公开（公告）号：CN117520207A

主分类号：G06F11/36

分类号：G06F11/36;G06F13/16

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要：本申请涉及内存检测技术领域，尤其涉及一种RAM访问冲突收集的方法、模块、装置、计算设备和计算机可读存储介质。方法包括：确定待检测的RAM；基于Basechecker例化得到针对所述RAM的checker；在仿真环境中执行测试用例，所述测试用例用于对所述RAM访问冲突进行测试；通过所述checker收集所述RAM对所述测试用例的响应结果。本申请通过提供归一化的、通用的RAM冲突收集方法及模块，可以适应多种场景和RAM。并且，可以根据需要独立开关某个checker。进行RAM测试时可以直接调用和功能拓写，无需重复编写环境，减少了工作量，提高了工作效率。

主权项：1.一种RAM访问冲突收集方法，其特征在于，包括：确定待检测的RAM；基于Basechecker例化得到针对所述RAM的checker；在仿真环境中执行测试用例，所述测试用例用于对所述RAM访问冲突进行测试；通过所述checker收集并存储所述RAM对所述测试用例的响应结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京物芯科技有限责任公司 一种RAM访问冲突收集的方法、模块、装置、计算设备

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