申请/专利权人：成都电科星拓科技有限公司

申请日：2022-12-30

公开（公告）日：2024-02-13

公开（公告）号：CN116112005B

主分类号：H03L7/085

分类号：H03L7/085;H03L7/081

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.02.13#授权;2023.05.30#实质审查的生效;2023.05.12#公开

摘要：本发明提供了一种DTC延迟单元的延迟测量方法、设备及存储介质，采用使能信号控制是否对DTC延迟单元的延迟进行测量，在确认进行测量时，通过步进扫描的方式生成信号完成DTC中延迟单元延迟的测量。本发明提出的延迟测量方法能够有效且准确的测量DTC的单元延迟，在传统全数字锁相环电路中，并没有出现该种测量方式。

主权项：1.一种DTC延迟单元的延迟测量方法，其特征在于，采用使能信号控制是否对DTC延迟单元的延迟进行测量，在确认进行测量时，通过步进扫描的方式生成信号完成DTC中延迟单元延迟的测量；所述步进扫描的方式具体工作过程为：按照预设的延迟单元扫描周期，依次对选择的延迟单元进行扫描测量生成切换频率，将切换频率输出到示波器，根据示波器中对应信号频谱的毛刺，确定对应延迟单元的延迟；扫描测量的具体过程为：输入预设频率，根据参考时钟的频率计算对应的分频比，再计算出对应的累加相位，在相位累加器中，每次累加一个计算出的累加相位，再将最高位或溢出位作为时钟输出，得到任意分频的时钟信号，即延迟单元的切换频率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都电科星拓科技有限公司 一种DTC延迟单元的延迟测量方法、设备及存储介质

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