申请/专利权人：西安理工大学

申请日：2023-11-30

公开（公告）日：2024-02-23

公开（公告）号：CN117595873A

主分类号：H03M1/10

分类号：H03M1/10;H03M1/00;H03M1/46

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.12#实质审查的生效;2024.02.23#公开

摘要：本发明公开的列并行SARSSADC前景斜坡共享移位校准方法，在单独的校准周期中，利用列共用斜坡电压对各列电容阵列的最低位进行校准，其余电容自低位向高位逐一采用斜坡电压和已校准电容进行校准，校准后将各电容对应数字码的偏移量存储在列内寄存器中，供正常工作的ADC进行量化结果的校准。本发明的列并行SARSSADC前景斜坡共享移位校准方法，提供了一种高效、精准的对两步式SARSSADC误差的校准方法，依靠于ADC架构的原始电路，增加少量数字控制电路与寄存器，并不大量增加功耗与面积，以极小的代价完成校准。

主权项：1.列并行SARSSADC前景斜坡共享移位校准方法，其特征在于，在单独的校准周期中，利用列共用斜坡电压对各列电容阵列的最低位进行校准，其余电容自低位向高位逐一采用斜坡电压和已校准电容进行校准，校准后将各电容对应数字码的偏移量存储在列内寄存器中，供正常工作的ADC进行量化结果的校准。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安理工大学 列并行SAR/SS ADC前景斜坡共享移位校准方法

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