申请/专利权人：深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心)

申请日：2023-10-23

公开（公告）日：2024-02-27

公开（公告）号：CN117607241A

主分类号：G01N27/64

分类号：G01N27/64

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.15#实质审查的生效;2024.02.27#公开

摘要：本发明公开了一种α粒子电离室及降低其中氡及其子体本底的方法，所述α粒子电离室包括一封闭腔体以及设置于所述腔体内的平行电极板，所述平行电极板包括相对设置的收集电极和阴极，所述收集电极和阴极之间充有绝缘气体，其特征在于，所述收集电极和阴极的间距不小于α粒子最大射程的三倍。本发明通过改进电离室的结构以及提供有效甄别α粒子电离室内氡及其子体产生的α粒子本底的方法，可有效降低α粒子电离室内氡及其子体本底，实现了低本底α探测，提高了低表面发射率的探测水平。

主权项：1.一种α粒子电离室，其包括一封闭腔体以及设置于所述腔体内的平行电极板，所述平行电极板包括相对设置的收集电极和阴极，所述收集电极和阴极之间充有作用气体，其特征在于，所述收集电极和阴极的间距不小于α粒子最大射程的三倍。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心) 一种α粒子电离室及降低其中氡及其子体本底的方法

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