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【发明公布】一种多DIE国产GPU的efuse模块身份信息校验和分类方法_武汉凌久微电子有限公司_202311746342.3 

申请/专利权人:武汉凌久微电子有限公司

申请日:2023-12-19

公开(公告)日:2024-03-01

公开(公告)号:CN117633913A

主分类号:G06F21/72

分类号:G06F21/72;G06F21/60;G06F21/44;G06F21/45;G06F1/3287

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开

摘要:本发明适用于GPU测试领域,提供一种多DIE国产GPU的efuse模块身份信息校验和分类方法,包括:读取第一、第二加密数据;根据第一、第二加密数据加密得到第三加密数据;各DIE校验第三加密数据的正确性;若数据校验正常则打开身份信息写入使能,否则锁死国产GPU芯片;各DIE进行DFT功能测试;测试完成后分类并写入身份信息数据,如果测试未通过,则锁死国产GPU芯片;写入身份信息数据并校验,写入批次性加密数据并校验,验证成功后结束。本发明能有效建立操作基台和多DIE国产GPU芯片之间的身份互认,防止芯片身份信息滥用和芯片逻辑泄露,同时设置功耗控制模块以节约功耗,并且使用批次性加密数据进行验证,避免不同客户定制的BIOS被串用带来的稳定性和适配性问题。

主权项:1.一种多DIE国产GPU的efuse模块身份信息校验和分类方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:步骤S1、操作基台读取国产GPU芯片自带的第一加密数据以及内部各DIE的第二加密数据;步骤S2、根据第一加密数据和第二加密数据按照预置的加密算法进行加密计算,得到第三加密数据,将所述第三加密数据发送至国产GPU芯片内对应的各DIE;步骤S3、各DIE采用相应的校验算法校验第三加密数据的正确性;步骤S4、若数据校验正常则打开身份信息写入使能,若数据校验失败则锁死国产GPU芯片;步骤S5、打开身份信息写入使能后,操作基台对国产GPU芯片内各DIE进行DFT功能测试;步骤S6、测试完成后根据测试结果对国产GPU进行分类并写入身份信息数据,如果测试未通过,则锁死国产GPU芯片;步骤S7、操作基台完成身份信息数据写入后,返回写入信息的CRC检验值,验证成功后,国产GPU芯片内的efuse模块使用加密算法得到批次性加密数据并写入,同时返回CRC检验值,验证成功后结束。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 武汉凌久微电子有限公司 一种多DIE国产GPU的efuse模块身份信息校验和分类方法

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