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【发明公布】一种基于Key-Value的差分DEM统计分析方法及系统_自然资源部第一地理信息制图院(陕西省第六测绘地理信息工程院)_202311661173.3 

申请/专利权人:自然资源部第一地理信息制图院(陕西省第六测绘地理信息工程院)

申请日:2023-12-06

公开(公告)日:2024-03-01

公开(公告)号:CN117635680A

主分类号:G06T7/49

分类号:G06T7/49;G06T7/90;G06F16/29;G06F16/56

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.03.01#公开

摘要:本发明公开了一种Key‑Value的差分DEM统计分析方法及系统,方法包括:读取矢量数据图层中的每个要素,并得到要素范围内的差分DEM掩膜数据,通过对像元灰度值进行整形和去重,得到像元灰度值列表并构建字典;将字典中的灰度值和像元个数分别转换为列表并升序排列;通过像元个数列表得到像元总数,并按照预设比例计算得到无效像元值个数;利用无效像元值个数剔除极大值和极小值,得到新字典;根据新字典的灰度值和像元个数计算得到统计分析结果。通过本发明的技术方案,能够对现有的、大区域的、多期的、感兴趣区的DEM数据进行差分统计分析,仅需提供对应的矢量数据即可完成统计分析,可直观高效地将差分DEM地形地貌的变化结果直观呈现。

主权项:1.一种基于Key-Value的差分DEM统计分析方法,其特征在于,包括:读取待统计矢量数据图层中的每个要素,并通过掩膜处理得到要素范围内的差分DEM掩膜数据;对所述差分DEM掩膜数据的像元灰度值进行整形和去重,得到像元灰度值列表,并根据所述像元灰度值列表构建得到字典Dic灰度值,像元个数;将所述字典中的灰度值和像元个数分别转换为列表,并按数值进行升序排列;通过像元个数列表得到像元总数,并按照预设比例计算得到无效像元值个数;利用所述无效像元值个数剔除所述灰度值列表中的极大值和极小值,得到新字典;根据所述新字典的灰度值和像元个数计算得到统计分析结果,并将统计分析结果赋值至所述矢量数据图层的要素。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 自然资源部第一地理信息制图院(陕西省第六测绘地理信息工程院) 一种基于Key-Value的差分DEM统计分析方法及系统

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