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【发明授权】基于聚合等级预估的终端PDCCH盲检方法_赛特斯信息科技股份有限公司;上海赛特斯信息科技股份有限公司;北京赛特斯信息科技股份有限公司_202210023931.8 

申请/专利权人:赛特斯信息科技股份有限公司;上海赛特斯信息科技股份有限公司;北京赛特斯信息科技股份有限公司

申请日:2022-01-11

公开(公告)日:2024-03-01

公开(公告)号:CN114362886B

主分类号:H04L1/00

分类号:H04L1/00;H04L5/00;H04W72/12

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.01#授权;2022.05.03#实质审查的生效;2022.04.15#公开

摘要:本发明公开一种基于聚合等级预估的终端PDCCH盲检方法及装置,无效检测次数少、检测效率高。方法包括:10类型获取:获取CORESET及搜索空间类型;20获取CCE个数:根据DCI格式类型及占用位数,得到CCE个数;30CCE起始位置计算:以CCE个数为当前聚合等级,计算相应搜索空间各候选PDCCH的CCE起始位置;40CCE数据盲检:从CCE起始位置开始,选取当前聚合等级N个CCE,对数据进行盲检测;50CRC校验:若CRC校验正确,则根据DCI格式长度,确定格式类型,转至60;若错误,转至40;60盲检测结束:如已解出DCI信息,盲检结束;否则转至20。

主权项:1.一种基于聚合等级预估的终端PDCCH盲检方法,其特征在于,包括如下步骤:10类型获取:从基站下发的RRCSetup消息中获取CORESET及搜索空间类型;20获取CCE个数:根据当前RNTI类型与DCI信息格式的对应关系,得到当前检测的DCI信息所有可能的格式类型,预估当前检测的DCI信息占用bit数,并根据聚合等级与可用bit数的对应关系,得到CCE个数;30CCE起始位置计算:以所述CCE个数为当前聚合等级L,并结合由基站下发的配置中获取的候选集个数,计算得到相应搜索空间各候选PDCCH的CCE起始位置;40CCE数据盲检:从相应搜索空间CCE起始位置开始,选取L个CCE,对所选CCE中的数据进行盲检测;50CRC校验:进行CRC校验;若CRC校验正确,则根据DCI信息格式长度,确定该DCI信息的格式类型,转至60步骤;若CRC校验错误,则结束本次搜索,转至40CCE数据盲检步骤,选用下一搜索起始位置,进行下一次搜索,直到搜索完当前空间中的所有候选集;60盲检测结束:如已解出UE所需的DCI信息,则盲检测结束;否则,转至20获取CCE个数步骤,按递增方式选用下一CCE聚合等级重新计算相应搜索空间内各候选PDCCH的CCE起始位置,选取相应的CCE数进行盲检测处理;如已检测完所有的聚合等级,盲检测结束;所述20获取CCE个数步骤中,预估当前检测的DCI信息占用bit数由下述公式实现: 其中,Lpre----预估的DCI信息所占用的bit数,包括CRC,LDCI----指定DCI信息格式的size,单位,bit,Rate----当前编码速率。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 赛特斯信息科技股份有限公司;上海赛特斯信息科技股份有限公司;北京赛特斯信息科技股份有限公司 基于聚合等级预估的终端PDCCH盲检方法

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