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【发明公布】一种极片涂布区域外观质量的检测方法及装置_深圳欣界能源科技有限公司_202311623778.3 

申请/专利权人:深圳欣界能源科技有限公司

申请日:2023-11-28

公开(公告)日:2024-03-08

公开(公告)号:CN117664981A

主分类号:G01N21/88

分类号:G01N21/88;G01N21/01;G01N21/95;G06T7/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.03.26#实质审查的生效;2024.03.08#公开

摘要:本发明公开了一种极片涂布区域外观质量的检测方法及装置,具体检测步骤如下:步骤1:照亮待检测的极片涂布区域;步骤2:采集待检测的极片涂布区域的涂布图像;步骤3:计算平均灰度值和极片的理论灰度值的差值的绝对值,并与第一预设值对比;当平均灰度值和理论灰度值的差值的绝对值不大于第一预设值时,继续检测极片的外观质量;当平均灰度值和理论灰度值的差值的绝对值大于第一预设值时,调节照亮待检测的极片涂布区域的亮度,并重复步骤3;通过涂布图像的平均灰度值调节照亮待检测的涂布区域的亮度,使得待检测的涂布区域的亮度发生改变时能够及时调整,不影响极片涂布区域灰度的测量精度,从而达到提升极片涂布区域检测精确性的技术效果。

主权项:1.一种极片涂布区域外观质量的检测方法,其特征在于:具体检测步骤如下:步骤1:照亮待检测的极片涂布区域;步骤2:采集待检测的所述极片涂布区域的涂布图像;步骤3:获取至少两张所述涂布图像的平均灰度值,计算所述平均灰度值和所述极片的理论灰度值的差值的绝对值,并将所述平均灰度值和所述理论灰度值的差值的绝对值与第一预设值进行对比;当所述平均灰度值和所述理论灰度值的差值的绝对值不大于所述第一预设值时,则继续检测所述极片涂布区域的外观质量;当所述平均灰度值和所述理论灰度值的差值的绝对值大于所述第一预设值时,则调节照亮待检测的所述极片涂布区域的亮度,并重复步骤3。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳欣界能源科技有限公司 一种极片涂布区域外观质量的检测方法及装置

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