申请/专利权人：中国科学院电工研究所;中国空间技术研究院

申请日：2023-11-24

公开（公告）日：2024-03-08

公开（公告）号：CN117664402A

主分类号：G01L1/22

分类号：G01L1/22;F16F15/04

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.26#实质审查的生效;2024.03.08#公开

摘要：本发明涉及光压力测量技术领域，提供了一种光压力测量系统，包括：减振装置，适于设置在真空的测试空间内；光源；光斩波装置，适于将光源发射的光信号调整成随时间变化的交流光信号；解耦装置，设置在减振装置上，被测试件适于悬挂在解耦装置上，用于消除被测试件自身重力对测试结果的影响；传感器，设置在解耦装置上，传感器与被测试件背对光源的一面相接触，用于获取被测试件受到的光压力大小。本发明提供的光压力测量系统，相较于传统的测量方式而言，能够排除多种外部环境因素的干扰，在地面上模拟出被测试件在空中真实的状态并进行光压力测量，使得测量结果更接近真实结果。

主权项：1.一种光压力测量系统，其特征在于，包括：减振装置，适于设置在真空的测试空间内；光源，适配于被测试件的受光面设置；光斩波装置，设置在所述光源的下游，适于将所述光源发射的光信号调制成随时间变化的交流光信号；解耦装置，设置在所述减振装置上，被测试件适于悬挂在所述解耦装置上，用于消除被测试件自身重力对测试结果的影响；传感器，设置在所述解耦装置上，所述传感器与被测试件背对光源的一面相接触，用于获取被测试件受到的光压力大小。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院电工研究所;中国空间技术研究院 一种光压力测量系统

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