申请/专利权人：宁波安芯美半导体有限公司

申请日：2022-05-10

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN114777688B

主分类号：G01B11/26

分类号：G01B11/26;G01M11/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2022.08.09#实质审查的生效;2022.07.22#公开

摘要：本发明公开了一种发光角度的测量装置，包括：支座；测试卡盘，转动安装在支座上；定位件，一端固定连接于测试卡盘，且测试卡盘的旋转中心位于定位件的轴心线延长线上；定位结构，连接于定位件的一端，定位结构容纳有被测件，且允许定位结构转动，且定位结构的旋转轴垂直于测试卡盘；以及接收结构，位于定位结构中心的延长线上，且接收结构位于被测件射出光线的一侧。本发明提供了一种发光角度的测量装置及测量方法，能够快速、低成本且高精度地测量发光角度。

主权项：1.一种发光角度的测量装置，其特征在于，包括：支座，所述支座的一侧设置有凹部；测试卡盘，转动安装在所述支座上；定位件，一端固定连接于所述测试卡盘，且所述测试卡盘的旋转中心位于所述定位件的轴心线延长线上；定位结构，连接于所述定位件的一端，所述定位结构容纳有被测件，且允许所述定位结构转动，且所述定位结构的旋转轴垂直于所述测试卡盘；以及接收结构，位于所述定位结构中心的延长线上，且所述接收结构位于所述被测件射出光线的一侧；其中，所述支座上设置有定位槽，所述定位槽的中心线和所述凹部的中心线位于同一平面内；所述定位件在所述支座上的投影位于所述定位槽内。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 宁波安芯美半导体有限公司 一种发光角度的测量装置及测量方法

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