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【发明授权】使用光子计数事件进行相衬成像的x射线成像系统_棱镜传感器公司_201980073978.1 

申请/专利权人:棱镜传感器公司

申请日:2019-10-14

公开(公告)日:2024-03-12

公开(公告)号:CN113167917B

主分类号:G01T1/24

分类号:G01T1/24;A61B6/03;G01N23/046;G01T1/29

优先权:["20181119 US 62/769,099"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.12#授权;2021.09.03#实质审查的生效;2021.07.23#公开

摘要:提供了一种x射线成像系统100,该系统包括x射线源10和相关联的x射线检测器20,其中,该x射线检测器20是使得能够检测光子计数事件的光子计数x射线检测器。该x射线成像系统100被配置用于使得能够基于检测到的光子计数事件来获取至少一个相衬图像。该x射线检测器20基于多个x射线检测器子模块,也称为晶片,每个x射线检测器子模块包括检测器元件,其中,这些x射线检测器子模块以边缘式几何结构定向,其边缘指向该x射线源,从而使x射线通过边缘进入。每个x射线检测器子模块或晶片具有厚度,其两个相对侧具有不同电势,以使得电荷能够朝向布置这些检测器元件的一侧漂移,这些检测器元件也称为像素。该x射线成像系统100进一步被配置为:确定该x射线检测器的x射线检测器子模块或晶片中的电荷扩散的估计或度量,该电荷扩散源自康普顿相互作用或通过与入射x射线光子相关的光电效应的相互作用;并且基于所确定的电荷扩散的估计或度量来确定该入射x射线光子在该x射线检测器子模块中的相互作用点的估计。

主权项:1.一种x射线成像系统(100),该系统包括x射线源(10)和相关联的x射线检测器(20),其中,该x射线检测器是使得能够检测光子计数事件的光子计数x射线检测器,其中,该x射线成像系统(100)被配置用于使得能够基于检测到的光子计数事件来获取至少一个相衬图像,其中,该x射线检测器(20)基于多个x射线检测器子模块(21),也称为晶片,每个x射线检测器子模块包括检测器元件(22),其中,这些x射线检测器子模块以边缘式几何结构定向,其边缘指向该x射线源,从而使x射线通过边缘进入,其中,每个x射线检测器子模块或晶片具有厚度,其两个相对侧具有不同电势,以使得电荷能够朝向布置这些检测器元件的一侧漂移,这些检测器元件也称为像素,并且其中,该x射线成像系统(100)被配置为:确定该x射线检测器的x射线检测器子模块或晶片中的电荷扩散的估计或度量,该电荷扩散源自康普顿相互作用或通过与入射x射线光子相关的光电效应的相互作用;并且基于所确定的电荷扩散的估计或度量来确定该入射x射线光子在该x射线检测器子模块中的相互作用点的估计。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 棱镜传感器公司 使用光子计数事件进行相衬成像的x射线成像系统

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