申请/专利权人：中国测试技术研究院声学研究所

申请日：2021-12-15

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN114166434B

主分类号：G01M3/26

分类号：G01M3/26

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.15#授权;2022.03.29#实质审查的生效;2022.03.11#公开

摘要：本发明涉及漏率测量技术领域，提供了一种原位测量本底漏率的方法及装置，通过将被校漏孔件与原位测量本底漏率装置连接，并调节该测量装置的活塞装置，使测量装置的内部气压分别处于相比大气压为正压和负压的状态，并得出在正压和负压状态下内部气压在泄漏时间内的变化值及被校漏孔、接头处漏气引起的差压变化量的相互关系，通过活塞杆静止与运动时不同累积时间下的差压变化校正体积参数，得出被校漏孔漏气及接头处漏气引起的差压变化量的相互关系，估算得到接头处漏率和被校漏孔漏率的比值，最后通过体积参数和该比值计算得到被校漏孔件测量漏率、平均总漏率和接头处漏率。该方法实现了对本底漏率的原位测量，提高了便捷性、普适性和测量效率。

主权项：1.一种原位测量本底漏率的方法，其特征在于，包括：将被校漏孔件6与原位测量本底漏率装置连接形成一密闭的校准室，所述被校漏孔件6包括被校接头和被校漏孔，在所述校准室内外有差压时，所述被校接头处和所述被校漏孔处均有漏气现象，所述原位测量本底漏率装置包括差压计1、活塞装置2、管道4和接头3，所述被校接头与所述接头3连接，所述差压计1的第一连接口与大气相连，所述差压计1的第二连接口与所述活塞装置2、所述被校漏孔件6通过管道4连接形成所述校准室；在排除所述接头处无较大泄漏的情况下，将所述活塞装置2的活塞杆202从预定位置处推进预定距离x2，在所述差压计1稳定预定时间后记录差压计示值PL1，经过时间tL并记录差压计示值PL2；将所述活塞杆202退回所述预定位置处，待所述差压计1稳定预定时间后记录差压计示值Ps1，在推动所述活塞杆202的同时开始计时，直到推进预定距离x并稳定预定时间后停止计时，记录差压计示值Ps2和时间ts，得到校准后进活塞时的体积系数kforw：其中，ΔPs＝Ps2-Ps1，ΔPL＝PL2-PL1＝ΔPref-ΔPleak，P0为大气压，A为活塞横截面面积，ΔPs为进活塞杆前时间tL内的差压计示值变化量，ΔPL为进活塞杆过程的差压计示值变化量，ΔPref为进活塞杆时被校漏孔漏气引起的差压变化量，ΔPleak为进活塞杆时接头处漏气引起的差压变化量，ΔPL、ΔPs、ΔPref、ΔPleak均大于零；将所述活塞杆202从所述预定位置处退回预定距离x2，在所述差压计1稳定预定时间后记录差压计示值P'L1，经过时间tL并记录差压计示值P'L2；将活塞退回所述预定位置处，待所述差压计1稳定预定时间后记录差压计示值P's1，在后退所述活塞杆202的同时开始计时，直到后退预定距离x并稳定预定时间后停止计时，记录的差压计示值P's2和时间t's，得到校准后退活塞时的体积系数kback：其中，ΔP's＝P's2-P's1，ΔP'L＝P'L2-P'L1＝ΔP'ref-ΔP'leak，P0为大气压，A为活塞横截面面积，ΔP's为退活塞杆前时间tL内的差压计示值变化量，ΔP'L为退活塞杆过程的差压计示值变化量，ΔP'ref为退活塞杆时被校漏孔漏气引起的差压变化量，ΔP'leak为退活塞杆时接头处漏气引起的差压变化量，ΔP'L、ΔP's、ΔP'ref、ΔP'leak均大于零；通过以下公式估算接头处漏率和被校漏孔漏率的比值γ：其中，ΔPref≈ΔP'ref，ΔPleak≈ΔP'leak；Qref为被校漏孔的漏率值，Qleak为接头处漏气的漏率值；测量任意泄漏时间t内所述校准室的差压变化量ΔP，通过以下公式分别计算所述泄漏时间t内的平均总漏率Qint、被校漏孔的漏率Qref和接头处漏率Qleak：Qint＝kΔPt，Qleak＝Qint-Qref，其中，

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国测试技术研究院声学研究所 一种原位测量本底漏率的方法及装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD