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【发明公布】一种提升单点定位精度及完好性的双重随机模型精化方法_同济大学_202311432287.0 

申请/专利权人:同济大学

申请日:2023-10-31

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN117724123A

主分类号:G01S19/37

分类号:G01S19/37;G01S19/07;G01S19/14;G01S19/24;G01S19/39;G01S19/42;G01S19/44;G01S19/04

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要:本发明公开了一种提升单点定位精度及完好性的双重随机模型精化方法包括:基于获取的GNSS观测数据进行伪距单点定位求解;对伪距单点定位中接收机方差项进行建模获得精化后的接收机方差;根据卫星高度角和精化后的接收机方差拟合卫星高度角随机模型系数;选择最优的拟合系数代替卫星高度角随机模型系数获得紧随机模型;利用紧随机模型重新进行伪距单点定位求解,获得观测值残差和对应的观测值方差并进行5‑sigma检验;利用SVD分解消除归一化残差间的相关性获得独立残差并进行两步高斯包络获得包络标准差,将较大的包络标准差作为膨胀因子乘以紧随机模型获得松随机模型;本发明有效提高了GNSS在定位和完好性监测应用中的精度、连续性和完好性。

主权项:1.一种提升单点定位精度及完好性的双重随机模型精化方法,其特征在于,包括:基于GNSS接收机获取的GNSS观测数据进行伪距单点定位求解;利用最小二乘方差分量估计对所述伪距单点定位中接收机方差项进行建模,获得精化后的接收机方差;根据卫星高度角和所述精化后的接收机方差拟合反映先验接收机噪声的卫星高度角随机模型系数;从所述卫星高度角随机模型系数中选择最优的拟合系数代替经验的卫星高度角随机模型系数,获得用于提升单点定位精度的紧随机模型;利用所述紧随机模型重新进行伪距单点定位求解,获得观测值残差和对应的观测值方差并进行5-sigma检验,对检验通过的观测值残差进行归一化;利用SVD分解消除归一化残差之间的相关性获得独立残差,对所述独立残差进行两步高斯包络获得包络标准差,将较大的包络标准差作为膨胀因子;将所述膨胀因子乘以所述紧随机模型获得用于提升ARAIM完好性监测效果的松随机模型。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 同济大学 一种提升单点定位精度及完好性的双重随机模型精化方法

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