申请/专利权人：DH科技发展私人贸易有限公司

申请日：2022-07-28

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117730394A

主分类号：H01J49/00

分类号：H01J49/00;G06V10/52

优先权：["20210801 US 63/228,126"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.03.19#公开

摘要：提供了一种用于识别质谱中的峰的方法。该方法包括：访问为分析样品而生成的具有强度信号的质谱300；对强度信号执行小波变换以生成强度信号的小波空间表示310；根据强度信号的小波空间表示生成尺度空间处理SSP响应信号412，414，416，其中SSP响应信号412，414，416表示针对特定mz起始位置312，314，316的不同小波尺度处的来自小波尺度表示310的SSP响应；识别SSP响应信号中的第一局部最大值的第一小波尺度；基于第一小波尺度，检测第一基线强度信号；从强度信号减去第一基线强度信号以生成第一调整后强度信号；以及检测第一调整后强度信号中的一个或多个峰。

主权项：1.一种用于识别质谱中的峰的方法，所述方法包括：访问为分析样品而生成的质谱，所述质谱具有强度信号；对所述强度信号执行小波变换以生成所述强度信号的小波空间表示；根据所述强度信号的所述小波空间表示生成尺度空间处理SSP响应信号；识别所述SSP响应信号中的第一局部最大值的第一小波尺度；基于所述第一小波尺度，检测第一基线强度信号；从所述强度信号减去所述第一基线强度信号以生成第一调整后强度信号；以及检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰。

全文数据：

权利要求：

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