申请/专利权人：辉达公司

申请日：2022-02-11

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN114967827B

主分类号：G05F3/26

分类号：G05F3/26

优先权：["20210224 US 17/184,396","20210921 US 17/481,154","20211209 US 17/546,438"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2022.09.16#实质审查的生效;2022.08.30#公开

摘要：本公开涉及通过老化提高位生成单元的稳定性。位生成单元在被配置用于字段中登记之前经历加速老化相关特性的过程。老化通过在不仅针对老化而且针对环境变化提高单元行为的方向上变换设备特性来提高单元的可靠性。读取单元的输出，并用偏置重新配置单元以输出相反值，然后老化用于登记。

主权项：1.一种通过老化提高位生成单元的稳定性的方法，包括：在第一条件下及在第二条件下读取包括物理不可克隆功能PUF单元的位模式生成电路的输出值；其中所述第一条件是偏置条件和非偏置条件中的一个，并且所述第二条件是另一个；识别所述位模式生成电路的在所述第一条件与所述第二条件之间翻转所述输出值的第一单元；以及使所述第一单元中的一个或更多个第一单元经受加速老化以生成老化单元。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 辉达公司 通过老化提高位生成单元的稳定性的方法，以及电路

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