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【发明授权】基于CM-SBR的复杂多个目标与背景环境整体化的分析方法及系统_南京理工大学_202310333123.6 

申请/专利权人:南京理工大学

申请日:2023-03-30

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN116362043B

主分类号:G06F30/20

分类号:G06F30/20;G06F111/10

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.19#授权;2023.07.18#实质审查的生效;2023.06.30#公开

摘要:本发明公开了一种基于CM‑SBR的复杂多个目标与背景环境整体化的分析方法及系统,计算在复杂的电大目标背景下的多个重复性目标的电磁散射特性时,采用低频的特征模方法计算多个重复性目标,利用特征模的自身特点,即模式只由目标本身属性有关,除此之外的信息都不会影响到模式本身,这样就可以用少量的模式来准确地描述每个单元的电流分布,使多个重复性目标组成的整个阵列的总未知量大幅减少,计算效率会有巨大提升;采用高频方法当中的弹跳射线法来计算电大目标。结合两种方法的各自优点,可以在保留一定的计算精度的前提下完成对复杂多个目标与背景环境的整体化的高效分析。

主权项:1.一种基于CM-SBR的复杂多个目标与背景环境整体化的分析方法,其特征在于,步骤如下:步骤1、首先需要对整个混合模型进行区域划分,将其分为两个区域,一个作为低频的CM区域,另一个作为高频的SBR区域;步骤2、低频的CM区域用特征模方法计算其散射场;步骤3、高频的SBR区域和两区域之间的耦合使用弹跳射线法计算其散射场;步骤4、将三个部分的散射场叠加得到整个目标的总散射场,计算RCS。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京理工大学 基于CM-SBR的复杂多个目标与背景环境整体化的分析方法及系统

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