申请/专利权人：西南交通大学

申请日：2022-11-18

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN116106657B

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2023.05.30#实质审查的生效;2023.05.12#公开

摘要：本发明公开了基于电子陷阱缺陷效应的EPDM三元乙丙橡胶电缆老化状态的评估方法，包括步骤：获取EPDM电缆老化样本电子陷阱分布中在某一能级范围内对应相关陷阱密度值，计算电子陷阱分布表征因子、计算转换系数、计算EPDM老化样本的老化评估指数、基于评估指数对EPDM电缆老化状态进行评估。本发明的有益效果在于：可准确、方便地对EPDM电缆老化状态进行评估，能够判断电缆的老化状态，对保障电缆的可靠稳定运行具有重要意义。

主权项：1.基于电子陷阱效应的EPDM电缆老化状态评估方法，其特征在于，包括步骤1：将EPDM老化电缆裁切出体积为20*20*0.5mm3的试样，采用等温表面电位衰减法测试EPDM老化试样内部陷阱分布情况，依据试样表面电位的衰减曲线，通过绝缘内部陷阱密度分布公式和陷阱能级分布公式求解电子陷阱分布特征，提取记录电子浅陷阱分布中能级分别为0.75eV、0.80eV、0.85eV、0.90eV、0.95eV、1.0eV、1.05eV时所对应的陷阱密度分布值ε0.75、ε0.80、ε0.85、ε0.90、ε0.95、ε1.00、ε1.05，数量级为1037，单位：m-3eV-1；提取记录电子深陷阱分布中能级分别为0.80eV、0.85eV、0.90eV、0.95eV、1.0eV时所对应的陷阱密度分布值σ0.80、σ0.85、σ0.90、σ0.95、σ1.00，数量级为1037，单位：m-3eV-1，步骤2：计算老化样本电子陷阱分布表征因子κ，电子陷阱分布表征因子κ可通过1式计算：κ＝α+β1其中， 式中，εmax、εmin为所获取的电子浅陷阱密度最大值和最小值，σmax、σmin为所获取的电子深陷阱密度最大值和最小值，α为电子浅陷阱密度表征系数，β为电子深陷阱密度表征系数，步骤3：计算转换系数：τ＝0.086×κ+0.0294步骤4：计算EPDM电缆老化评估指数，可通过如下公式5计算： 步骤5：基于老化评估指数对EPDM电缆样本老化状态进行评估。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西南交通大学 一种基于电子陷阱效应的EPDM电缆老化状态的评估方法

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