申请/专利权人：鞍钢股份有限公司

申请日：2022-01-07

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN114371186B

主分类号：G01N23/223

分类号：G01N23/223;G01N23/2202

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2022.05.06#实质审查的生效;2022.04.19#公开

摘要：本发明涉及一种克服XRF粉末压片法测定合金元素粒度效应的方法，制备粒度组成相似的标准样品及待分析样品,标准样品及待分析样品分别粗破、细破、研磨、筛分分级、配制后压制样片。采用x射线荧光光谱仪粉末法进行分析。本发明通过重新分配样品中不同粒度的组成，使标准样品及待分析样品的粒度组成达到高度相似，消除由于粒度效应带来的分析线强度的波动给检测结果带来的误差，解决了合金x射线荧光光谱分析粉末压片法测定合金元素的粒度效应和矿物效应。

主权项：1.一种克服XRF粉末压片法测定合金元素粒度效应的方法，其特征在于，通过重新分配样品中不同粒度的组成，使标准样品及待分析样品的粒度组成达到高度相似，消除由于粒度效应带来的分析线强度的波动给检测结果带来的误差，具体包括：1标准样品及待分析样品分别粗破：将样品破碎至小于3-5mm；2标准样品及待分析样品分别细破：将样品破碎至小于2mm以下；3标准样品及待分析样品分别研磨：对样品进行研磨；入钵重量50-100g；研磨时间定时为300-500秒，间歇式研磨；4标准样品及待分析样品分别筛分分级:研磨后的样品筛分为4级，分别为x1、x2、x3、x4；x1粒径：0.125mm≤x1粒径＜0.180mm；x2粒径：0.075mm≤x2粒径＜0.125mm；x3粒径：0.045mm≤x3粒径＜0.075mm；x4粒径：x4粒径＜0.045mm；5配制标准样品及待分析样品标准样品及待分析样品按照相同比例配比，按质量配比为：x4大于总量的60％，其余按x1：x2：x3＝1：1-2：2-3配加；6采用x射线荧光光谱仪粉末法进行分析；按照相应的合金x射线荧光光谱检测法推荐的元素检测条件，进行标准样品待测元素的x射线荧光谱线的计数率强度的测量，按照元素分析线计数率强度与待测元素的浓度，绘制一元线性工作曲线，测量未知样品元素的分析线强度，利用参考标准曲线获得未知样品元素浓度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 鞍钢股份有限公司 一种克服XRF粉末压片法测定合金元素粒度效应的方法

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