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【发明公布】一种低硅含量高纯铟的制备方法_先导薄膜材料(广东)有限公司_202311730581.X 

申请/专利权人:先导薄膜材料(广东)有限公司

申请日:2023-12-15

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN117737471A

主分类号:C22B58/00

分类号:C22B58/00;C22B9/16;C22B9/04;C22B9/05

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要:本发明属于金属提纯技术领域,公开了一种低硅含量高纯铟的制备方法,包括如下步骤:步骤1:将铟原料放入氢化炉内,抽真空至真空度为5*10‑3Pa‑8*10‑3Pa;步骤2:通惰性气体至常压,保压30min;步骤3:将惰性气体置换成氢气,开启加热升温至400‑600℃,保温1‑2h得到所述低硅含量高纯铟。本发明公开了一种低硅含量高纯铟的制备方法,可以将高纯铟中的硅元素含量降低到<10ppbw,有效提高高纯铟的使用性能。

主权项:1.一种低硅含量高纯铟的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:将铟原料放入氢化炉内,抽真空至真空度为5*10-3Pa-8*10-3Pa;步骤2:通惰性气体至常压,保压30min;步骤3:将惰性气体置换成氢气,开启加热升温至400-600℃,保温1-2h得到所述低硅含量高纯铟。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 先导薄膜材料(广东)有限公司 一种低硅含量高纯铟的制备方法

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