申请/专利权人：深圳市浦洛电子科技有限公司

申请日：2023-08-31

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN220641603U

主分类号：B65G47/82

分类号：B65G47/82;B65G43/08;B65G53/50;B65G47/248

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权

摘要：本实用新型公开了一种芯片老化板测试物料上料装置，包括料仓组件、移管组件、推管组件、轨道组件、挡料组件、分料组件以及机架；所述移管组件设置于机架上，移管组件的两端设置有料仓组件，料仓组件的旁侧设置有推管组件；所述轨道组件上设置有进料口以及出料口，移管组件用于将料管运送至轨道组件的出料口；所述轨道组件上沿进料口往出料口方向上依次设置有挡料组件以及分料组件。本实用新型的有益效果是：该装置能够对半导体中的料管进行批量上料，能够有效解决在上料过程中需要人工协助并且效率低下的问题。

主权项：1.一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，包括料仓组件、移管组件、推管组件、轨道组件、挡料组件、分料组件以及机架；所述移管组件设置于机架上，移管组件的两端设置有料仓组件，料仓组件的旁侧设置有推管组件；所述轨道组件上设置有进料口以及出料口，移管组件用于将料管运送至轨道组件的出料口；所述轨道组件上沿进料口往出料口方向上依次设置有挡料组件以及分料组件。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市浦洛电子科技有限公司 一种芯片老化板测试物料上料装置

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