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【发明授权】一种低功耗熔丝状态检测电路_中国电子科技集团公司第五十八研究所_202111108776.1 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第五十八研究所

申请日:2021-09-22

公开(公告)日:2024-03-26

公开(公告)号:CN113805113B

主分类号:G01R31/74

分类号:G01R31/74;G01R31/54;G01R27/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.26#授权;2022.01.04#实质审查的生效;2021.12.17#公开

摘要:本发明公开一种低功耗熔丝状态检测电路,PMOS管MP1和PMOS管MP2的源端接电源VCC,栅端接电压信号VP1;PMOS管MP1的漏端接PMOS管MP3的源端,PMOS管MP2的漏端接PMOS管MP4的源端;PMOS管MP3的漏端接参考电阻Rref的第一端,PMOS管MP4的漏端接熔丝Rfuse的第一端;NMOS管MN3的漏端接参考电阻Rref的第二端,NMOS管MN4的漏端接熔丝Rfuse的第二端;NMOS管MN3的栅端接熔丝Rfuse的第二端,NMOS管MN4的栅端接参考电阻Rref的第二端;NMOS管MN3和NMOS管MN4的源端均接地。NMOS管MN1的漏端接参考电阻Rref的第二端,源端接地;NMOS管MN2的漏端接熔丝Rfuse的第二端,源端接地;NMOS管MN1和NMOS管MN2的栅端接复位信号rst;缓冲器Buf2的输入端接参考电阻Rref的第二端,输出端为输出信号VO2;缓冲器Buf1的输入端接熔丝Rfuse的第二端,输出端为输出信号VO1。

主权项:1.一种低功耗熔丝状态检测电路,其特征在于,包括PMOS管MP1~MP4、NMOS管MN1~MN4、缓冲器Buf1和Buf2、电容C1和C2、熔丝Rfuse和参考电阻Rref;PMOS管MP1和PMOS管MP2的源端均接电源VCC,栅端均接电压信号VP1;PMOS管MP1的漏端接PMOS管MP3的源端,PMOS管MP2的漏端接PMOS管MP4的源端;PMOS管MP3的漏端接参考电阻Rref的第一端,PMOS管MP4的漏端接熔丝Rfuse的第一端;NMOS管MN3的漏端接参考电阻Rref的第二端,NMOS管MN4的漏端接熔丝Rfuse的第二端;NMOS管MN3的栅端接熔丝Rfuse的第二端,NMOS管MN4的栅端接参考电阻Rref的第二端;NMOS管MN3和NMOS管MN4的源端均接地;NMOS管MN1的漏端接参考电阻Rref的第二端,其源端接地;NMOS管MN2的漏端接熔丝Rfuse的第二端,其源端接地;NMOS管MN1和NMOS管MN2的栅端共同接复位信号rst;缓冲器Buf2的输入端接参考电阻Rref的第二端,输出端为输出信号VO2;缓冲器Buf1的输入端接熔丝Rfuse的第二端,输出端为输出信号VO1;所述PMOS管MP3的栅端与所述NMOS管MN3的栅端相连,所述PMOS管MP4的栅端与所述NMOS管MN4的栅端相连;所述NMOS管MN3的栅端通过电容C1接地,所述NMOS管MN4的栅端通过电容C2接地。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第五十八研究所 一种低功耗熔丝状态检测电路

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