申请/专利权人：中科星图测控技术股份有限公司

申请日：2023-10-27

公开（公告）日：2024-03-26

公开（公告）号：CN117150184B

主分类号：G06F17/10

分类号：G06F17/10

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.26#授权;2023.12.19#实质审查的生效;2023.12.01#公开

摘要：本发明公开了一种基于卫星星历的天基光学设备测量数据仿真方法，包括步骤：S1、获取被观测目标地固系星历和天基光学设备地固系星历，配置天基光学设备运行参数文件、行星星历文件和地球自转参数文件；S2、计算是否几何可见；S3、查看距离R、方位角A和俯仰角E是否满足天基光学设备的设计指标；S4、计算被观测目标是否在地影或月影中；S5、张角θ是否大于阈值进行判定；S6、计算仿真数据赤经和赤纬，S7、遍历时间段T，存储仿真数据。本发明通过对多种天基光学设备的观测条件判定，保证天基光学设备仿真测量数据符合真实的跟踪场景，可为天基光学设备上天前的需求论证提供理论支持，为其他需要仿真天基光学设备测量数据的场景提供支持。

主权项：1.一种基于卫星星历的天基光学设备测量数据仿真方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取被观测目标地固系星历和天基光学设备地固系星历，配置天基光学设备运行参数文件、行星星历文件和地球自转参数文件，其中；S2、在时间段内，按设定步长，计算时刻被观测目标地固系位置速度和天基光学设备地固系位置速度；根据和计算被观测目标与天基光学设备是否几何可见；S3、如果被观测目标与天基光学设备几何可见，则将和分别转置至天基光学设备本体坐标系，在本体坐标系下，计算被观测目标在天基光学设备中的距离、方位角和俯仰角，查看距离、方位角和俯仰角是否满足天基光学设备的设计指标；如果被观测目标与天基光学设备几何不可见，则返回S2进行下一步长计算；S4、如果距离、方位角和俯仰角满足天基光学设备的设计指标，则计算被观测目标是否在地影或月影中；如果距离、方位角和俯仰角不满足天基光学设备的设计指标，则返回S2进行下一步长计算；S5、如果被观测目标不在地影或月影中，则计算天基光学设备太阳矢量与天基光学设备被观测目标矢量的张角，对张角是否小于阈值进行判定；如果被观测目标在地影或月影中，则返回S2进行下一步长计算；S6、如果张角不小于阈值，则计算天基光学设备的仿真测量数据赤经和赤纬，然后返回S2进行下一步长计算；如果张角小于阈值，则返回S2进行下一步长计算；S7、按设定步长，遍历时间段，存储仿真测量数据。

全文数据：

权利要求：

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