申请/专利权人：丹阳丹耀光学股份有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117804744A

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明公开了一种棱镜光程测量方法及其工装，本申请的棱镜光程测量方法，利用遮挡标识线，如分划线在光斑中形成的阴影轮廓线来测量，相较于直接测量光线轮廓，这种方法更易于识别和定位，从而降低了测量误差；方案中还提出利用现有的二次元投影仪设施，现有方法中尚未出现使用二次元投影仪测量棱镜光程的方法，通过二次元投影仪的自动成像和测量功能，大大简化了测量的操作步骤，且由于二次元投影仪本身的成像测量精度相对较高，采用该方法测量棱镜光程的准确性也相对较高；本申请的工装，包括一个或多个分划板，其能够方便的提供遮挡标识线。

主权项：1.一种棱镜光程测量方法，其特征在于：包括以下步骤：设置一投影光源，在该投影光源的投影路径上设置遮挡标识线；根据预设的第一位置对投影光源产生的第一光斑成像，并记录所述第一光斑中遮挡标识线所对应产生的阴影轮廓线的初始X轴坐标P1；确定棱镜的入射面，将所述入射面对应投影光源设置，并使投影光源产生的光线经过所述遮挡标识线进入所述入射面；确定棱镜的出射面，在所述出射面对应的第二位置处对投影光源产生的第二光斑成像，并记录所述第二光斑中遮挡标识线所对应产生的阴影轮廓线的X轴坐标P2；根据获取的X轴坐标P2和初始X轴坐标P1，计算两者X轴方向的距离值，将所述距离值作为所述棱镜光程；其中，所述第一位置和所述第二位置的高度一致。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 丹阳丹耀光学股份有限公司 一种棱镜光程测量方法及其工装

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