申请/专利权人：天津大学

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117804378A

主分类号：G01B11/24

分类号：G01B11/24;G01B11/30

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明提供了一种大批量反光平面面型自动测量方法，涉及面型测量技术领域，该方法包括：构建双目相位偏折测量系统，基于所述双目相位偏折测量系统对若干待测件同时进行多个相移条纹图像的采集；分别对采集到的条纹图像进行相位解算，以确定两个相机的相机像素点与屏幕像素点的位置对应关系；根据两个相机采集到的条纹图像的条纹变化情况分别进行若干待测件的相应有效区域的提取；依据极线和法矢的约束建立两个相机中有效区域与待测件的对应关系，基于双目视觉拟合待测件的预定位平面；基于预定位平面进行解算，得到待测件表面的法矢方向，依据待测件表面的法矢方向积分解算面型。本发明有效地解决了反光平面器件面型的大批量检测的需求。

主权项：1.一种大批量反光平面面型自动测量方法，其特征在于，包括：构建双目相位偏折测量系统，基于所述双目相位偏折测量系统对若干待测件同时进行多个相移条纹图像的采集；分别对采集到的条纹图像进行相位解算，以确定两个相机的相机像素点与屏幕像素点的位置对应关系；根据两个相机采集到的条纹图像的条纹变化情况分别进行若干待测件的相应有效区域的提取；依据极线和法矢的约束建立两个相机中有效区域与待测件的对应关系，基于双目视觉拟合待测件的预定位平面；基于预定位平面进行解算，得到待测件表面的法矢方向，依据待测件表面的法矢方向积分解算面型。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 天津大学 一种大批量反光平面面型自动测量方法

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