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【实用新型】磁吸式测量辅助装置_刘镇_202321908267.1 

申请/专利权人:刘镇

申请日:2023-07-19

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN220708396U

主分类号:G01C15/08

分类号:G01C15/08;F16M13/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.02#授权

摘要:本实用新型公开了一种用于水平测量的磁吸式测量辅助装置。它包括内置钕磁铁的底座以及能够连接在底座上的测点延伸显示架,底座上设置用于校核底座摆放角度的长气泡,测点延伸显示架上设置反射片,底座能够通过钕磁铁吸附在载体表面上的同时能够通过长水泡对摆放角度进行校核,测点延伸显示架通过底座进行支撑安装并能够通过反射片对数据进行采集。优点是:可以轻松快速布置点位,精准反映点位情况,更快更好的完成测量点位的现场布置与测量,减小现场对接难度,操作十分方便快捷,在没有外力干预的情况下,完全满足测点布置要求,测量时可以获得准确的数据,可以减少人工付出和降低现场测量、布点难度,从而提高了检测工作效率并保证了数据质量。

主权项:1.一种磁吸式测量辅助装置,其特征在于:包括内置有钕磁铁(1)的底座(2)以及能够连接在底座上的测点延伸显示架(3),所述底座(2)上设置有用于校核底座摆放角度的长气泡(4),所述测点延伸显示架(3)上设置有反射片,所述底座(2)能够通过钕磁铁吸附在载体表面上的同时能够通过长水泡对摆放角度进行校核,所述测点延伸显示架(3)通过底座(2)进行支撑安装并能够通过所述反射片对数据进行采集。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 刘镇 磁吸式测量辅助装置

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