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【发明公布】用于SSD硬盘的高温测试方法_冠佳技术股份有限公司_202311727220.X 

申请/专利权人:冠佳技术股份有限公司

申请日:2023-12-14

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117854574A

主分类号:G11C29/50

分类号:G11C29/50;G11C29/56

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要:本发明涉及高温测试技术领域,特别是一种用于SSD硬盘的高温测试方法,包括机箱以及高温产生机构,所述机箱包括主机位、操作位以及测试位,所述测试位与操作位和主机位由上至下依次设置,所述测试位设置有测试室,所述测试室内设置有多个被测试SSD硬盘;所述高温产生机构包括可开合设置在测试室的密封罩、设置在密封罩并朝向被测试SSD硬盘侧面吹风的第一吹风装置、设置在密封罩并朝向被测试SSD硬盘上端吹风的第二吹风装置以及位于测试室一侧并与第一吹风装置相对的排风装置;所述密封罩用于将测试室密封。本发明通过设置在测试位的密封罩,将测试室与外部环境完全隔离,形成了一个密闭的测试空间,确保了测试环境的稳定性。

主权项:1.一种用于SSD硬盘的高温测试方法,其特征在于:包括测试设备,所述测试设备包括机箱以及高温产生机构,所述机箱包括主机位、操作位以及测试位,所述测试位与操作位和主机位由上至下依次设置,所述测试位设置有测试室,所述测试室内设置有多个被测试SSD硬盘;以及所述高温产生机构包括可开合设置在测试室的密封罩、设置在密封罩并朝向被测试SSD硬盘侧面吹风的第一吹风装置、设置在密封罩并朝向被测试SSD硬盘上端吹风的第二吹风装置以及位于测试室一侧并与第一吹风装置相对的排风装置;所述测试室内设置有温度传感器,以感应测试空间内的温度;所述测试室内设置有测试支架,所述测试支架上安装有测试载具,所述测试载具上设置有测试插接面板,所述测试插接面板用于插入被测试SSD硬盘;所述第二吹风装置包括安装在密封罩内的吹风支架、安装在吹风支架上的第二风扇以及设置在吹风支架的发热元件,所述第二风扇朝向发热元件吹风,以形成热风朝向被测试SSD硬盘的上端面吹送;所述测试方法包括如下步骤:步骤S1,装入被测试SSD硬盘:将被测试SSD硬盘插入到测试插接面板;步骤S2,形成密闭的测试室:将密封罩合并,通过密封罩将测试室密封,密封后使得测试室形成测试空间;步骤S3,制造高温环境:第一吹风装置朝向被测试SSD硬盘吹出热风,以对测试空间形成高温环境;步骤S4,搅散高温环境:第二风扇朝向发热元件吹风,以形成热风朝向被测试SSD硬盘的上端面吹送,同时将第一吹风装置所吹出的热风搅散,使得测试空间充分处于高温状态;步骤S5,高温控制:通过温度传感器对环境内温度进行检测,检测温度在150℃~200℃时,将第一吹风装置和排风装置关闭,以将测试空间封闭,形成高温环境,持续对被测试SSD硬盘进行高温测试;直至测试结束。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 冠佳技术股份有限公司 用于SSD硬盘的高温测试方法

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