申请/专利权人:成都态坦测试科技有限公司
申请日:2023-12-29
公开(公告)日:2024-04-05
公开(公告)号:CN117819198A
主分类号:B65G47/90
分类号:B65G47/90;B65G37/00;G11C29/56
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.04.05#公开
摘要:本发明提供一种SSD卡测试设备及SSD卡生产线,涉及硬盘技术领域。该SSD卡测试设备包括多个测试装置、第一输送装置和夹取装置,多个测试装置至少包括开卡柜、RDT测试柜和BIT测试柜,第一开卡柜、所述RDT测试柜和所述BIT测试柜沿第一方向依次设置;第一输送装置用于在第一方向上输送测试载具;其中,在所述第一输送装置的输送方向上,BIT测试柜位于所述开卡柜的上游;夹取装置能够在第一输送装置和多个测试装置中任意两个之间转移测试载具。本发明提供的SSD卡测试设备能够代替人工周转,省时省力,能够实现标准化生产,有效提高生产效率。
主权项:1.一种SSD卡测试设备,其特征在于,所述SSD卡测试设备包括:多个测试装置,所述多个测试装置至少包括第一开卡柜、RDT测试柜和BIT测试柜,所述第一开卡柜、所述RDT测试柜和所述BIT测试柜沿第一方向依次设置;第一输送装置,所述第一输送装置用于在所述第一方向上输送测试载具;其中,在所述第一输送装置的输送方向上,所述BIT测试柜位于所述开卡柜的上游;夹取装置,所述夹取装置能够在所述第一输送装置和多个所述测试装置中任意两个之间转移所述测试载具。
全文数据:
权利要求:
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