申请/专利权人：上海卫星工程研究所

申请日：2023-12-25

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849737A

主分类号：G01S7/40

分类号：G01S7/40;G01V13/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明提供了一种静止轨道微波载荷形面‑位姿误差整体在轨标定和补偿装置，摄影测量相机用于对主反进行多目立体成像，通过主反表面标志点三维坐标解算结果监测主反形面精度；形面测量基准尺用于确定摄影测量坐标系的长度基准；编码标志点作为立体像对公共点用于实现立体像对的自动相对定向；单点标志点用于提供主反立体测量的特征点；激光扫描测量相机通过测量主反、一副反和二副反上的共面激光靶标空间位置监测各反射面位姿变化情况；公共点转换靶标用于实现各反射面共面激光靶标激光测量结果的基准传递；共面激光靶标用于建立反射面随体坐标系，通过随体坐标系在轨标定与地面标定结果的直接对比获得反射面位姿变化情况。

主权项：1.一种静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置，其特征在于，包括：微波载荷、摄影测量相机、形面测量基准尺、编码标志点、单点标志点、激光扫描测量相机、公共点转换靶标和各反射面上的共面激光靶标；所述微波载荷包括天线主反射面、第一副反射面、第二副反射面、天线撑杆和准光系统；所述天线主反射面、第一副反射面、第二副反射面通过天线撑杆安装在卫星平台的顶板上；所述准光系统通过准光框架安装并嵌入到卫星平台中；所述摄影测量相机安装在所述天线撑杆中的一副反撑杆上；所述形面测量基准尺固定在准光框架上；所述编码标志点、单点标志点粘贴在天线主反表面；所述激光扫描测量相机安装在一副反撑杆和准光框架下方；所述公共点转换靶标粘贴在一副反撑杆和天线主反形面中心区域，所述共面激光靶标粘贴在三个反射面上；所述摄影测量相机用于对主反表面标志点和形面测量基准尺成像，测量主反形面精度；所述激光扫描测量相机用于测量公共点转换靶标和共面激光靶标的三维坐标，通过公共点转换靶标实现共面激光靶标测量结果的基准传递，在统一测量基准下解算天线主反、一副反、二副反的位姿变化情况。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海卫星工程研究所 静止轨道微波载荷形面-位姿误差整体在轨标定和补偿装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD