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【发明授权】一种时变温度下油纸绝缘频域介电谱曲线校正方法及设备_西安交通大学_202210021092.6 

申请/专利权人:西安交通大学

申请日:2022-01-10

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN114528726B

主分类号:G06F30/23

分类号:G06F30/23;G06F113/04;G06F119/08

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.09#授权;2022.06.10#实质审查的生效;2022.05.24#公开

摘要:本申请提供了一种时变温度下油纸绝缘频域介电谱曲线校正方法及设备,该方法通过构建测试油纸绝缘套管的二维轴对称模型,根据二维轴对称模型,确定二维轴对称模型相应的各温度分布云图。其中,温度分布云图为二维轴对称模型在不同时刻下散热三维温度分布云图。根据不同时刻的各温度分布云图,确定二维轴对称模型相应的第一函数。根据介电弛豫模型以及预设的多个恒温频域介电谱FDS曲线,确定第二函数。根据第一函数以及第二函数,通过最小二乘法,确定待校正FDS曲线各频率点对应的等效温度。其中,待校正FDS曲线由FDS测试仪采集测试油纸绝缘套管得到的。根据各等效温度以及预设方式,对待校正FDS曲线进行校正。

主权项:1.一种时变温度下油纸绝缘频域介电谱曲线校正方法,其特征在于,所述方法包括:构建测试油纸绝缘套管的二维轴对称模型;根据所述二维轴对称模型,确定所述二维轴对称模型相应的各温度分布云图;其中,所述温度分布云图为所述二维轴对称模型在不同时刻下散热的三维温度分布云图;根据所述不同时刻的各所述温度分布云图,确定所述二维轴对称模型相应的第一函数;根据介电弛豫模型以及预设的多个恒温频域介电谱FDS曲线,确定第二函数;其中,所述第二函数表示FDS曲线与温度的对应关系;根据所述第一函数以及所述第二函数,通过最小二乘法,确定待校正FDS曲线各频率点对应的等效温度;其中,所述待校正FDS曲线由FDS测试仪采集所述测试油纸绝缘套管得到的;根据各所述等效温度以及预设方式,对所述待校正FDS曲线进行校正;其中,根据介电弛豫模型以及预设的多个恒温频域介电谱FDS曲线,确定第二函数,具体包括:根据所述介电弛豫模型,将静态介电常数、光频介电常数、弛豫时间、弛豫时间分布相关的第一形状参数及第二形状参数,作为粒子参数;根据预设的粒子群优化算法以及各所述恒温FDS曲线,对各粒子进行迭代计算,以得到不同温度下各所述粒子参数的参数值;其中,所述不同温度为各所述恒温FDS曲线相应的恒温温度;根据各所述粒子参数的参数值,确定第三函数;其中,所述第三函数表示介质损耗角正切值与温度的对应关系;根据所述第三函数,确定以所述温度为因变量,以所述介质损耗角正切值及频率为自变量的二元函数,为所述第二函数;其中,根据各所述粒子参数的参数值,确定第三函数,具体包括:确定各所述恒温温度相应的各所述参数值;根据各所述恒温温度相应的各所述参数值,通过三次样条插值,确定各温度分别与各所述参数值的函数关系;根据各所述函数关系以及所述介质损耗角正切值相应的公式,确定所述第三函数;其中,所述第一函数为:T′=ae-mt+be-nt其中,T′为实时温度,a为第一拟合系数,b为第二拟合系数,m为第一拟合指数,n为第二拟合指数,t为时间;其中,所述第三函数为:tanδ=fεsT,ε∞,τT,αT,βT其中,tanδ为所述介质损耗角正切值,T为温度,εs为所述静态介电常数,ε∞为所述光频介电常数,τ为所述弛豫时间,α为所述第一形状参数,β为所述第二形状参数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安交通大学 一种时变温度下油纸绝缘频域介电谱曲线校正方法及设备

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