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【发明授权】基于开环控制的闭环稳定性的校正方法、设备及介质_芯耀辉科技有限公司_202410021917.3 

申请/专利权人:芯耀辉科技有限公司

申请日:2024-01-08

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117544164B

主分类号:H03L7/081

分类号:H03L7/081;G06F1/12;H03L7/089;H03L7/18

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.09#授权;2024.03.01#实质审查的生效;2024.02.09#公开

摘要:本申请涉及计算机技术领域并提供一种基于开环控制的闭环稳定性的校正方法、设备及介质。方法包括:校正第一环路系统在开环状态下的第一环路带宽;基于相位裕度,确定零点频率相对于第一环路带宽的第一比值和极点频率相对于第一环路带宽的第二比值;基于第一比值和参考电容值校正零点电容的电容值,以及基于第二比值和参考电容值校正极点电容的电容值。如此,在开环状态下运行环路系统并进行闭环稳定性的校正,有利于缩短校正时间和简化控制流程。

主权项:1.一种基于开环控制的闭环稳定性的校正方法,其特征在于,所述校正方法包括:校正第一环路系统在开环状态下的第一环路带宽,其中,所述第一环路系统的主环路包括鉴相器、电荷泵和生成器,所述鉴相器用于当所述第一环路系统在所述开环状态下时基于第一输入信号频率生成第一电荷泵电流,所述电荷泵用于当所述第一环路系统在所述开环状态下时基于所述第一电荷泵电流生成第一控制电压信号,所述生成器用于当所述第一环路系统在所述开环状态下时基于所述第一控制电压信号生成第一时钟信号,当所述第一环路系统在所述开环状态下时所述第一时钟信号不被反馈到所述鉴相器;基于相位裕度,确定零点频率相对于所述第一环路带宽的第一比值和极点频率相对于所述第一环路带宽的第二比值;基于所述第一比值和参考电容值校正零点电容的电容值,以及基于所述第二比值和所述参考电容值校正极点电容的电容值,其中,所述零点电容和所述极点电容并行连接于所述电荷泵和所述生成器之间,开关电容电路或者参考电阻串行连接于所述零点电容和所述主环路之间,所述开关电容电路按照所述第一输入信号频率与所述参考电阻等效,所述参考电容值是所述开关电容电路的电容值,所述鉴相器还用于当所述第一环路系统在闭环状态下时基于第二输入信号频率和第二时钟信号的频率生成第二电荷泵电流,所述电荷泵用于当所述第一环路系统在所述闭环状态下时基于所述第二电荷泵电流生成第二控制电压信号,所述生成器用于当所述第一环路系统在所述闭环状态下时基于所述第二控制电压信号生成第三时钟信号,所述第二时钟信号与所述第三时钟信号相同或者是对所述第三时钟信号分频得到。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 芯耀辉科技有限公司 基于开环控制的闭环稳定性的校正方法、设备及介质

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