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【发明公布】一种用于放射性核素活度直接测量的方法及装置_中国原子能科学研究院_202311753778.5 

申请/专利权人:中国原子能科学研究院

申请日:2023-12-19

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117872445A

主分类号:G01T1/20

分类号:G01T1/20

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明属于放射性核素检测技术领域,具体涉及一种用于放射性核素活度直接测量的方法及装置。其中方法包括如下步骤:步骤S1,配置数字时间关联谱测量探测器系统,包括β探测通道和γ探测通道;步骤S2,使用数字化仪采集数字时间关联谱测量探测器系统获得的放射性核素的β信号和γ信号的脉冲波形,并实时提取β信号和γ信号的过阈时间及脉冲幅度信息,并保存在列表文件中;步骤S3,读取列表文件中记录的β信号和γ信号,应用数字时间关联软件电路离线处理β信号和γ信号,绘制数字时间关联谱,计算得到β表观效率;步骤S4,对β表观效率进行死时间修正和本底修正,得到β修正效率,由β真净计数率与β修正效率计算得到放射性核素的活度。

主权项:1.一种用于放射性核素活度直接测量的方法,包括如下步骤:步骤S1,配置数字时间关联谱测量探测器系统,包括β探测通道和γ探测通道;步骤S2,使用数字化仪采集所述数字时间关联谱测量探测器系统获得的放射性核素的β信号和γ信号的脉冲波形,并实时提取所述β信号和所述γ信号的过阈时间及脉冲幅度信息,并保存在列表文件中;步骤S3,读取所述列表文件中记录的所述β信号和所述γ信号,应用所述数字时间关联谱测量探测器系统内的数字时间关联软件电路离线处理所述β信号和所述γ信号,绘制数字时间关联谱,计算得到β表观效率;步骤S4,对所述β表观效率进行死时间修正和本底修正,得到β修正效率,由β真净计数率与β修正效率计算得到所述放射性核素的活度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国原子能科学研究院 一种用于放射性核素活度直接测量的方法及装置

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