申请/专利权人：西安电子工程研究所

申请日：2023-12-22

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117872367A

主分类号：G01S13/90

分类号：G01S13/90

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明涉及一种通过雷达技术指标截取大斜视SAR成像有效成像场景的方法，属于大斜视SAR成像技术领域。根据项目设定的雷达信号处理器信号带宽、采样率、脉冲积累时间等技术指标要求，计算出成像场景中心距、地平面内成像场景距离向和方位向的成像幅宽和分辨率等具体需求，再根据斜平面地平面坐标轴转换关系，推算出斜平面内二维成像场景距离维点数和方位向脉压积累点数，从而保留数据录取中有效数据截除冗余数据，缩短成像算法实时处理耗时，满足设计要求。

主权项：1.一种通过雷达技术指标截取大斜视SAR成像有效成像场景的方法，其特征在于，包括：根据雷达信号处理器技术指标计算出成像场景中心距、地平面成像场景距离向的成像幅宽、分辨率；根据成像场景中心距以及SAR参数建立方位零时刻SAR成像场景几何模型，得到雷达平台到成像场景中任意一点的距离；基于方位零时刻SAR成像场景几何模型分别构造方位零时刻雷达平台所在的成像场景坐标系和大地坐标系，即斜平面所在坐标系和地平面所在坐标系；根据斜平面和地平面坐标轴转换关系，得到斜平面所在坐标系坐标值和地平面所在坐标系坐标值之间的关系，将雷达平台到成像场景中任意一点的距离转化为地平面所在坐标系坐标值表达式；根据地平面成像场景距离维的成像幅宽、分辨率对雷达平台到成像场景中任意一点的距离进行求解，推算距离向距离单元个数；根据距离向距离单元个数保留数据录取中的有效数据截除冗余数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安电子工程研究所 一种通过雷达技术指标截取大斜视SAR成像有效成像场景的方法

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