申请/专利权人：南京邮电大学

申请日：2024-03-11

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117872103A

主分类号：G01R31/3185

分类号：G01R31/3185;G11C29/56;G11C29/54

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明公开了一种通用测试芯粒，用于对若干个待测芯粒进行测试，测试芯粒包括芯粒测试控制电路模块、测试数据分发电路模块、存储器测试配置电路模块和芯粒测试接口电路模块；芯粒测试控制电路模块用于为待测芯粒提供测试数据、配置测试模式；测试数据分发电路模块用于从测试数据总线分发每个所述待测芯粒所需的测试数据；存储器测试配置电路模块用于为待测芯粒的存储器提供测试电路，自动生成测试矢量；芯粒测试接口电路模块用于通过芯粒测试接口为待测芯粒在上下左右任意方向传输测试数据；本发明将芯粒系统所需的共享的测试资源嵌入其中，满足芯粒系统测试即插即用的策略，为芯粒系统提供了全面、灵活、高效的测试方案。

主权项：1.一种通用测试芯粒，其特征在于，用于对M个待测芯粒进行测试，M为正整数，所述测试芯粒包括：芯粒测试控制电路模块，与所述待测芯粒和测试数据分发电路模块、存储器测试配置电路模块、芯粒测试接口电路模块连接，用于接收外部的JTAG信号并对所述待测芯粒的JTAG信号进行配置，为所述待测芯粒提供测试数据、配置测试模式，以及为存储器测试配置电路模块、芯粒测试接口电路模块和所述待测芯粒提供配置信号；测试数据分发电路模块，与芯粒测试控制电路模块和芯粒测试接口电路模块连接，包括N个测试数据通道，N为正整数，用于从测试数据总线分发每个所述待测芯粒所需的测试数据，以加载或卸载所述测试数据通道；存储器测试配置电路模块，与所述待测芯粒的存储器和芯粒测试控制电路模块连接，用于为所述待测芯粒的存储器提供测试电路，自动生成测试矢量；芯粒测试接口电路模块，与所述待测芯粒和芯粒测试控制电路模块、测试数据分发电路模块连接，用于将所述测试数据通道连接为单链，通过芯粒测试接口为所述待测芯粒在上下左右任意方向传输所述测试数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京邮电大学 一种通用测试芯粒

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