申请/专利权人：深圳市标谱半导体股份有限公司

申请日：2019-12-31

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN111152999B

主分类号：B65B57/04

分类号：B65B57/04;B65B35/18

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2024.03.29#著录事项变更;2020.11.20#著录事项变更;2020.06.09#实质审查的生效;2020.05.15#公开

摘要：一种影像检测中发现的缺料或外观不良材料的自动补换料方法及机构，其中，机构包括工作台，位于工作台上的主碟片、补料轨道、影像NG排料处，以及用于供载带通过的轨道，轨道上具有影像检测处，主碟片上的料可转移至补料轨道上，在工作台的一侧设有自动补换料装置，自动补换料装置包括安装座、位于安装座上的X轴移动单元、位于X轴移动单元上的Z轴移动单元、位于Z轴移动单元上的Y轴移动单元、吸嘴和吸嘴安装组件，吸嘴通过吸嘴安装组件安装在Y轴移动单元上。因此，本发明具有可以实现自动补换料的、不需要人工操作的、能够提高工作效率的优点。

主权项：1.一种影像检测中发现的缺料或外观不良材料的自动补换料方法，其特征在于：包括以下步骤：（S1）、利用带有吸嘴（11）的自动补换料机构，该自动补换料机构具有主碟片（12）、与主碟片（12）邻接的补料轨道（13）、影像NG排料处（14）、用于供载带（21）通过的轨道（110），以及自动补换料装置（1），所述轨道（110）上具有影像检测处（15），该自动补换料装置（1）具有X轴移动单元、Y轴移动单元和Z轴移动单元，所述X轴移动单元、Y轴移动单元和Z轴移动单元可对吸嘴（11）进行三轴定位，该自动补换料装置（1）位于载带（21）的一侧，且位于载带影像检测装置和补料轨道（13）之间，所述补料轨道（13）具有一弧形弯道（131）和取料位置（130），主碟片（12）上的材料（9）可被吹至所述补料轨道（13）的取料位置（130）上；载带影像检测装置对影像检测处（15）的载带（21）里的材料（9）进行检测，当检测到载带（21）里的材料（9）为外观不良料时，执行下述（S21）—（S25）步骤的动作：（S21）、X轴移动单元向带动吸嘴（11）向右移动，移动至影像检测处（15）时，Z轴移动单元带动吸嘴（11）向下移动，吸嘴（11）将影像检测处（15）的载带（21）上的不良料吸起；（S22）、Z轴移动单元带动吸嘴（11）向上移动，随后Y轴移动单元带动吸嘴（11）向前移动，当移动至影像NG排料处（14）时，Z轴移动单元带动吸嘴（11）向下移动，吸嘴（11）将不良料从影像NG排料处（14）排出；（S23）、Z轴移动单元带动吸嘴（11）向上移动，X轴移动单元向带动吸嘴（11）向左移动，当移动至所述补料轨道（13）的取料位置（130）处时，所述Z轴移动单元带动吸嘴（11）向下移动，吸嘴（11）吸起补料轨道（13）的取料位置（130）处的料；（S24）、Z轴移动单元带动吸嘴（11）向上移动，随后Y轴移动单元带动吸嘴（11）向后移动，X轴移动单元向带动吸嘴（11）向右移动，当移动至所述影像检测处（15）的载带（21）上时，Z轴移动单元带动吸嘴（11）向下移动，吸嘴（11）将料补进影像检测处（15）的载带（21）上；（S25）、Z轴移动单元带动吸嘴（11）向上移动，X轴移动单元向带动吸嘴（11）向左移动，吸嘴（11）回到初始位置；而当检测到载带（21）为空料时，执行下述（S31）—（S33）步骤的动作：（S31）、Y轴移动单元带动吸嘴（11）向前移动，待吸嘴（11）到达补料轨道（13）的取料位置（130）处时，Z轴移动单元带动吸嘴（11）向下移动，吸嘴（11）吸起补料轨道（13）的取料位置（130）处的料；（S32）、Z轴移动单元带动吸嘴（11）向上移动，Y轴移动单元带动吸嘴（11）向后移动，X轴移动单元向带动吸嘴（11）向右移动，待吸嘴（11）移动至所述影像检测处（15）的载带（21）上时，Z轴移动单元带动吸嘴（11）向下移动，吸嘴（11）将料补进影像检测处（15）的载带（21）上；（S33）、Z轴移动单元带动吸嘴（11）向上移动，X轴移动单元向带动吸嘴（11）向左移动，吸嘴（11）回到初始位置。

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