申请/专利权人：长春理工大学

申请日：2021-03-25

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN115128303B

主分类号：G01Q30/20

分类号：G01Q30/20;G01N15/10

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2022.10.25#实质审查的生效;2022.09.30#公开

摘要：本发明公开了一种基于原子力纳米压痕测量单个细胞杨氏模量的方法，属于纳米测量技术领域。利用原子力显微镜分别在细胞的中心位置和边缘位置设置压痕点，获得压痕曲线，读取压痕数据并利用赫兹模型对压痕曲线进行分析，获得各个压痕深度的杨氏模量，通过研究分析细胞中心位置与边缘位置弹性特性获得细胞骨架在细胞内部的分布情况。本发明公开了一种新的确定起始计算点的方法，排除了基底对细胞弹性模量的干扰，获得了更准确的杨氏模量及细胞骨架分布情况。

主权项：1.一种基于原子力纳米压痕测量单个细胞杨氏模量的方法，其特征在于：在原子力显微镜接触模式下，进行纳米压痕，测量细胞弹性，包括以下步骤：1首先在空白基底上获取一组压痕曲线，然后分别在细胞中心位置与边缘位置以3×3阵列形式设置压痕点；2在同一压痕点上设置大小不同的作用力获得不同的压痕深度；3利用互相关算法找到细胞力-位移曲线与基底力-位移曲线相关系数较高的数据段，删除该段数据，并对其进行补偿，再将剩余的数据段延长至原来的长度，获得一条经互相关算法修正后的修正力-位移曲线；4利用赫兹接触模型的两点法，以小作用力获得的压痕深度作为起始计算点，分析计算细胞力-位移曲线和修正力-位移曲线，得到杨氏模量随压痕深度变化曲线图。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长春理工大学 一种基于原子力纳米压痕测量单个细胞杨氏模量的方法

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