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【发明授权】一种NFC标签基于侦测线状态进行生命周期管理的方法_芯电智联(北京)科技有限公司_202310897116.9 

申请/专利权人:芯电智联(北京)科技有限公司

申请日:2023-07-20

公开(公告)日:2024-04-23

公开(公告)号:CN116980869B

主分类号:H04W4/80

分类号:H04W4/80;H04B5/77

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.23#授权;2023.11.17#实质审查的生效;2023.10.31#公开

摘要:本发明实施例涉及一种NFC标签基于侦测线状态进行生命周期管理的方法,所述方法包括:NFC标签接收指令;提取生命周期阶段和回切口令;并生成侦测线状态;在发行前阶段时,对指令码是否为回切口令校验指令码进行识别,是则设置返回数据为指令码错误,否则运行指令程序得到返回数据;在发行后阶段且侦测线状态为断路时,对指令码是否为屏蔽指令码进行识别,是则设置返回数据为指令码错误,否则运行指令程序得到返回数据;在发行后阶段且侦测线状态为连通时,进行回切口令校验;校验成功后运行指令程序得到返回数据;向NFC终端回发返回数据。本发明可以降低标签报废率、提高标签复用率。

主权项:1.一种NFC标签基于侦测线状态进行生命周期管理的方法,其特征在于,所述方法包括:NFC标签接收NFC终端发送的第一指令;所述第一指令包括第一指令码和第一指令参数;所述NFC标签包括第一、第二侦测线连接槽;将本地数据存储区中预置的生命周期阶段数据和生命周期回切口令数据提取出来作为对应的第一阶段和第一回切口令;并根据所述第一、第二侦测线连接槽进行侦测线状态识别处理生成对应的第一状态;所述第一阶段包括发行前阶段和发行后阶段;所述第一状态包括连通状态和断路状态;所述本地数据存储区为NFC标签的数据存储区;当所述第一阶段为发行前阶段时,将所述本地数据存储区中预置的回切口令校验状态数据设为校验失败;并对所述第一指令码是否为预设的回切口令校验指令码进行识别;若是,则将对应的第一返回数据设为预设的指令码错误返回状态;若否,则根据所述第一指令码和所述第一指令参数进行指令程序运行得到对应的所述第一返回数据;当所述第一阶段为发行后阶段且所述第一状态为断路状态时,将所述回切口令校验状态数据设为校验失败;并根据预设的屏蔽指令码集合对所述第一指令码进行屏蔽指令码识别处理得到对应的第一识别结果;若所述第一识别结果为是,则将对应的所述第一返回数据设为所述指令码错误返回状态;若所述第一识别结果为否,则根据所述第一指令码和所述第一指令参数进行指令程序运行得到对应的所述第一返回数据;所述屏蔽指令码集合包括多个第一屏蔽指令码,其中一个所述第一屏蔽指令码为所述回切口令校验指令码;当所述第一阶段为发行后阶段且所述第一状态为连通状态时,对所述第一指令码是否为所述回切口令校验指令码进行识别;若所述第一指令码为所述回切口令校验指令码,则对所述第一指令参数与所述第一回切口令是否匹配进行识别,若是则将所述回切口令校验状态数据设为校验通过,若否则将所述回切口令校验状态数据设为校验失败;若所述第一指令码不为所述回切口令校验指令码,则对所述回切口令校验状态数据是否为校验失败进行识别,若是则将对应的所述第一返回数据设为所述指令码错误返回状态,若否则根据所述第一指令码和所述第一指令参数进行指令程序运行得到对应的所述第一返回数据;将得到的所述第一返回数据向所述NFC终端回发;其中,所述NFC标签的所述第一、第二侦测线连接槽用于连接侦测线的两端,所述侦测线为一条可导电的连接线;所述侦测线的连接线材质选用低阻材质;当所述侦测线的两端分别插入所述第一、第二侦测线连接槽时,所述NFC标签与所述侦测线构成一个回路,所述第一、第二侦测线连接槽之间的绝对电势差降低;所述根据所述第一、第二侦测线连接槽进行侦测线状态识别处理生成对应的第一状态,具体包括:将所述第一、第二侦测线连接槽之间的绝对电势差作为对应的第一电势差;并对所述第一电势差是否低于预设的断路电势差阈值进行识别;若是,则将对应的所述第一状态设为连通状态;若否,则将对应的所述第一状态设为断路状态。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 芯电智联(北京)科技有限公司 一种NFC标签基于侦测线状态进行生命周期管理的方法

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