申请/专利权人：埃尔特克有限公司

申请日：2019-10-03

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN113286986B

主分类号：G01F23/263

分类号：G01F23/263

优先权：["20181003 IT 102018000009140"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2021.09.07#实质审查的生效;2021.08.20#公开

摘要：一种用于检测介质的水平的电容传感器1包括控制电路、支承结构2和在支承结构2上的检测结构。检测结构包括多个电极E，电极各自包括连接部件T和多个检测部件J，检测部件J连接到连接部件T并在横向于传感器的长度方向X的方向上延伸，一个电极E的检测部件J相对于另一个电极E的检测部件J以基本上交错的构造布置。检测结构包括多个第一检测区段S，其在长度方向X上连续延伸，并且包括最靠近近端区的至少一个顶部区段Si和一个或多个下面的区段S2,S3,S4，在该一个或多个下面的区段S2,S3,S4中的至少一个底部区段S4最靠近远端区，第一和第二电极E中的每个的检测部件J在对应的第一检测区段S处。每个第一检测区段S包括第一电极E和一个所述第二电极E，每个第一检测区段S的第一和第二电极E设置在支承结构2上，彼此电绝缘并且相对于其它第一检测区段S中的每个的第一和第二电极E电绝缘。控制电路被预先布置成用于选择性地在对应的检测区段S的第一和第二电极E之间施加电势差，检测第一和第二电极之间的电容值，并基于前述电容值确定介质的水平，每个第一检测区段S由此可用于以独立于其它第一检测区段S的方式执行电容的检测。

主权项：1.一种用于检测介质L的水平的电容传感器1，其包括至少一个控制电路33,34、在长度方向X上延伸并且具有近端区PR和远端区DR的支承结构2；2’,2”以及在所述至少一个支承结构2；2’,2”上的至少一个检测结构4；4’,4”，其中，所述至少一个检测结构4；4’,4”包括多个电极E，所述多个电极E各自包括多个水平检测部件J和基本上在所述长度方向X上延伸的连接部件T，所述多个水平检测部件J连接到所述连接部件T并且在横向于所述长度方向X的方向上延伸，具有相应的宽度尺寸W，第一电极E的所述多个水平检测部件J相对于第二电极E的所述多个水平检测部件J以交错的构造布置，其中：-所述至少一个检测结构4；4’,4”包括在所述长度方向X上连续延伸的多个第一水平检测区段S，所述多个第一水平检测区段S包括最靠近所述近端区的至少一个上区段S1和一个或多个下面的区段S2,S3,S4，在所述一个或多个下面的区段S2,S3,S4中的至少一个下区段S4最靠近所述远端区，所述第一电极E和所述第二电极E中的每个的所述多个水平检测部件J在对应的所述第一水平检测区段S处；-每个第一水平检测区段S包括一个所述第一电极E和一个所述第二电极E，每个第一水平检测区段S的所述第一电极E和所述第二电极E设置在所述至少一个支承结构2；2’,2”上，彼此电绝缘并且相对于其它第一水平检测区段S中的每个的所述第一电极E和所述第二电极E电绝缘，-所述控制电路33,34被预先布置成用于选择性地在对应的第一水平检测区段S的所述第一电极E和所述第二电极E之间施加电势差，检测所述第一电极E和所述第二电极E之间的电容值，并且基于所述电容值确定所述介质的水平，每个第一水平检测区段S由此可用于以独立于其它第一水平检测区段S的方式执行电容的检测，以便检测所述介质的水平。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 埃尔特克有限公司 用于检测介质的水平的电容传感器

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