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【发明公布】根因因素指标的确定方法及装置、存储介质、电子装置_中兴通讯股份有限公司_202211231541.6 

申请/专利权人:中兴通讯股份有限公司

申请日:2022-10-08

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN117896276A

主分类号:H04L43/02

分类号:H04L43/02;H04L43/04;H04L43/08

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.04.16#公开

摘要:本发明实施例提供了一种根因因素指标的确定方法及装置、存储介质、电子装置,其中,上述方法包括:在确定当前网络的指标发生劣化的情况下,对于多个指标中的每一个指标,确定每一个指标下的所有因素指标的劣化贡献度,因素指标与劣化贡献度为一一对应关系;从多个指标所对应的劣化贡献度中确定出劣化贡献度超过第一阈值的目标劣化贡献度,及目标劣化贡献度对应的多个第一因素指标;根据目标因素指标和多个第一因素指标在两个相邻周期内的相对熵值确定指标发生劣化的根因因素指标,其中,目标因素指标由目标对象确定。解决了相关技术中对于通过半自动化,或者完全自动化的方式确定指标发生劣化的原因分析方案存在的分析周期长,应用场景少的问题。

主权项:1.一种根因因素指标的确定方法,其特征在于,包括:在确定当前网络的指标发生劣化的情况下,对于多个指标中的每一个指标,确定所述每一个指标下的所有因素指标的劣化贡献度,其中,因素指标与劣化贡献度存在一一对应关系;从所述多个指标所对应的劣化贡献度中确定出劣化贡献度超过第一阈值的目标劣化贡献度,并确定所述目标劣化贡献度对应的多个第一因素指标;根据目标因素指标和所述多个第一因素指标在两个相邻周期内的相对熵值确定所述指标发生劣化的根因因素指标,其中,所述目标因素指标通过目标对象确定。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中兴通讯股份有限公司 根因因素指标的确定方法及装置、存储介质、电子装置

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