申请/专利权人：浙江大学绍兴研究院

申请日：2023-12-14

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890083A

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本发明公开了一种光波导芯片自动上料测试装置，包括底部水平板，所述底部水平板的下方安装有前后移动机构，前后移动机构处于底部水平板下方地面上成型且前后延伸的安装凹槽中，前后移动机构的移动块顶面固定在底部水平板的底面上；它可以实现上料架上的光波导芯片自动放置到金属测试台的顶面进行自动检测并可以将金属测试台检测好的光波导芯片自动下料放置到下料架上，其可以实现连续上料检测和下料，大大提高自动化连接检测效果，提高检测效率，降低人工劳动量。

主权项：1.一种光波导芯片自动上料测试装置，包括底部水平板10，其特征在于：所述底部水平板10的下方安装有前后移动机构20，前后移动机构20处于底部水平板10下方地面上成型且前后延伸的安装凹槽中，前后移动机构20的移动块21的顶面固定在底部水平板10的底面上；所述底部水平板10的顶面中部固定有金属测试台30，金属测试台30顶面的前部和后部均固定有夹持气缸31；所述底部水平板10顶面的左部和右部地面固定的连接板上固定有支撑架40，左侧的支撑架40的顶部固定有双出轴推料气缸41，双出轴推料气缸41的两个推杆上固定有同一个推动块411，底部水平板10后方的地面上固定有后连接板，后连接板顶面的左部和右部均固定有竖直升降机构50，左侧的竖直升降机构50的升降块51上固定有上料架60，右侧的竖直升降机构50的升降块51上固定有下料架70，上料架60和下料架70处于金属测试台30的左右两侧，上料架60上固定有多个隔板61，相邻隔板61之间成型放料腔，下料架70上固定有多个横向隔板71，相邻横向隔板71之间成型有后放置腔，放料腔和后放置腔的底面与金属测试台30的顶面相对应；右侧的支撑架40的顶部固定有双出轴取料气缸42，双出轴取料气缸42的两个推杆的端部通过螺栓固定连接有吸盘43，吸盘43对着下料架70。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 浙江大学绍兴研究院 一种光波导芯片自动上料测试装置及上料方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD