申请/专利权人：五邑大学

申请日：2023-11-24

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117884370A

主分类号：B07C5/34

分类号：B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38;G06T7/00;G06V10/764;G06T7/13;G06T7/12;G06T7/11;G06V10/25;G06N3/0464

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本发明实施例提供了一种不良产品分拣方法和装置、电子设备及存储介质。本发明通过基于深度学习的目标检测方法，能够对电子产品结构件制品进行自动缺陷检测，从而替代人工肉眼检测，极大提高检测效率和效果。通过智能搜索算法，对有缺陷的不良制品的位置与需要将其分拣到的目标位置进行数学建模，并求解最优的执行机构运动轨迹，从而提高分拣效率。整个过程不需要人工介入，自动完成识别、分类、分拣过程。基于此，本发明实施例能够在分拣过程中自动剔除不良产品，提高分拣效率。

主权项：1.一种不良产品分拣方法，包括：对目标物进行拍摄，得到目标物图像，其中，所述目标物包括大托盘和对称放置在所述大托盘两侧的多个不同类型的小托盘，所述大托盘和所述小托盘内均设置有多个阵列排布的凹槽，所述大托盘内的凹槽用于盛放未经分拣的结构件制品，所述小托盘的凹槽用于盛放经分拣出来的不良制品；从所述目标物图像中提取出大托盘区域内所有结构件制品的对应制品图像；将一个批次的所述制品图像输入至目标检测模型进行缺陷检测和分类，得到检测结果，并将检测结果标记到对应的所述制品图像；将匹配到所述检测结果的所述制品图像还原到大托盘区域图像，再将所述大托盘区域图像还原到所述目标物图像；根据不良制品在大托盘的起始位置与需要将不良制品分拣到对应小托盘的目标空槽进行数学建模处理，分别计算得到各个不良制品的第一空间坐标中心点和各个目标空槽的第二空间坐标中心点，进而计算出任意第一空间坐标中心点和任意第二空间坐标中心点之间的距离矩阵，其中，所述目标空槽为所述小托盘中未盛放不良制品的凹槽；根据设定的约束条件和所述距离矩阵通过智能搜索算法求解执行机构分拣不良制品的最优分拣轨迹；根据所述最优分拣轨迹控制所述执行机构将所述不良制品分拣到对应的小托盘区域。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 五邑大学 不良产品分拣方法和装置、电子设备及存储介质

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD