申请/专利权人：中国电子科技集团公司第十四研究所

申请日：2023-12-06

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890866A

主分类号：G01S7/40

分类号：G01S7/40;G01R29/10

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：如何快速全面的完成模块性能测试，并评估模块性能是否符合要求，是现代相控阵天线测试任务中急需解决的问题。为此，本发明提出了一种相控阵天线模块测试系统及测试方法，用于快速全面的完成相控阵天先模块性能测试，并自动评估模块性能是否符合要求。为未来模块化、低成本相控阵天线智能化测试，提供技术支持。

主权项：1.一种相控阵天线模块测试系统，其特征在于：被测相控阵天线模块包括辐射单元、有源通道和幅相控制模块以及主信号口、内监测口、供电与控制接口，测试系统包含微波暗室、探头、探头控制器、计算机、功分器A、功分器B和测试机组以及连接上述设备的电缆；测试时，被测相控阵天线模块、探头和探头控制器放置于微波暗室之中，测试机组包括信号接口、监测A接口、监测B接口、探头控制接口、低频与光接口和计算机接口，探头控制接口与探头控制器连接，计算机接口与计算机连接，低频与光接口与供电与控制接口连接，信号接口通过功分器A与主信号口连接，监测A接口通过功分器B与内监测接口连接，形成内监测链路，监测B接口与探头连接，形成外监测链路；通过控制计算机中模块测试控制软件，实现对被测相控阵天线模块的加电、断电、测试和分析测试任务。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第十四研究所 一种相控阵天线模块测试系统及测试方法

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