申请/专利权人：荣耀终端有限公司

申请日：2024-03-14

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890681A

主分类号：G01R27/26

分类号：G01R27/26;G01D21/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本申请实施例提供一种插损校准方法及校准系统，涉及电子技术技术领域。该方法包括：针对任一个测试座集合，控制开关单元中的至少一个开关器件的开关状态，以形成开关单元、测试座集合中的测试座以及m个端口中的第一端口所构成的目标通路，其中测试座集合包括n个测试座中的至少两个测试座。根据校准板以及综测仪，获取目标通路的总体插损。根据总体插损、校准板的自身插损以及校准板与综测仪之间的环境插损，生成测试座集合所对应的目标等式。根据至少n个所述测试座集合各自对应的目标等式，确定n个测试座各自对应的环境插损。这样，可以提升确定的环境插损的准确性，进而可以有效的提升对于校准板进行产线校准的正确性。

主权项：1.一种插损校准方法，其特征在于，应用于产线校准中的校准系统，所述系统包括：校准板以及综测仪，其中，所述校准板中包括开关单元以及n个测试座，所述综测仪中包括m个端口，所述开关单元中的接口与所述n个测试座相连接，并且所述n个测试座与所述综测仪中的所述m个端口相连接，所述n以及所述m均为大于或等于1的整数；所述方法包括：针对任一个测试座集合，控制所述开关单元中的至少一个开关器件的开关状态，以形成所述开关单元、所述测试座集合中的测试座以及所述m个端口中的第一端口所构成的目标通路，其中所述测试座集合包括所述n个测试座中的至少两个测试座；根据所述校准板以及所述综测仪，获取所述目标通路的总体插损；根据所述总体插损、所述校准板的自身插损以及所述校准板与所述综测仪之间的环境插损，生成所述测试座集合所对应的目标等式；根据至少n个所述测试座集合各自对应的目标等式，确定所述n个测试座各自对应的环境插损。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 荣耀终端有限公司 插损校准方法及校准系统

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