申请/专利权人：苏州中航天成电子科技有限公司

申请日：2024-03-18

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117890635A

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.03#实质审查的生效;2024.04.16#公开

摘要：本发明涉及封装外壳技术领域，公开了一种封装外壳插入损耗测试装置及方法，其装置包括工作台，工作台上设有支架，支架上安装有可调节的传动组件，传动组件的输出端上设有支撑组件，支撑组件上水平安装有第一网络分析仪和第二网络分析仪，第一网络分析仪和第二网络分析仪的检测端分别连接有待测试件和标准件，在工作台上设有放置槽，待测试件和标准件均水平放置于放置槽内。本发明可以消除测试设备和参考标准连接器的不确定度，提高测试精度，使用了两个网络分析仪，可以在更广泛的频率范围内进行测试，同时利用二次串联，可以同时测量连接器的反向传输损耗。

主权项：1.一种封装外壳插入损耗测试装置，其特征在于，包括工作台（100），工作台（100）上设有支架（130），支架（130）上安装有可调节的传动组件（800），传动组件（800）的输出端上设有支撑组件（700），支撑组件（700）上水平安装有第一网络分析仪（200）和第二网络分析仪（300），第一网络分析仪（200）和第二网络分析仪（300）的检测端分别连接有待测试件（900）和标准件，在工作台（100）上设有放置槽（110），待测试件（900）和标准件均水平放置于放置槽（110）内；第一网络分析仪（200）和第二网络分析仪（300）用于分别测试待测试件（900）和标准件的损耗量；待测试件（900）包括测试板（910）、待测壳体（920）和内置夹块（930），在内置夹块（930）设于测试板（910）的板面上，待测壳体（920）通过内置夹块（930）卡设于测试板（910）上；支撑组件（700）包括移动轨道（710）、滑动架（720）和伸缩气缸（610），滑动架（720）滑动连接在移动轨道（710）上，在滑动架（720）上安装有调节夹具，伸缩气缸（610）安装于调节夹具的两端外壁上，伸缩气缸（610）的活动端连接有支撑柱（620），两侧的框型架之间的支撑柱（620）上安装有连接组件（400），待测试件（900）设于连接组件（400）的连接端之间；在靠近第一网络分析仪（200）和第二网络分析仪（300）之间的调节夹具上设有串联端头（630），串联端头（630）可连通第一网络分析仪（200）和第二网络分析仪（300）的测试端；通过串联端头（630）连通第一网络分析仪（200）和第二网络分析仪（300）时，第一网络分析仪（200）和第二网络分析仪（300）一同测试待测试件（900）和标准件的共同损耗量。

全文数据：

权利要求：

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