申请/专利权人：天马日本株式会社

申请日：2019-08-07

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN110824736B

主分类号：G02F1/13

分类号：G02F1/13;G09G3/00

优先权：["20180808 JP 2018-149120","20190626 JP 2019-118964"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2021.03.09#实质审查的生效;2020.02.21#公开

摘要：本发明能适当地评价液晶面板的显示品质下降。本发明公开了液晶面板的显示品质下降的评价方法及其装置。在评价方法中，对液晶面板施加电压，通过所述电压测定流至所述液晶面板的电流波形，从所述电流波形提取因所述液晶内的离子引起的多个峰值曲线，基于所述多个峰值曲线中与比最快的第一迁移率慢的第二迁移率对应的第二峰值曲线的分析结果来评价液晶面板的显示品质下降。

主权项：1.一种评价方法，是液晶面板的斑点产生风险的评价方法，其中，对液晶面板施加电压，通过所述电压测定流至所述液晶面板的电流波形，从所述电流波形提取因所述液晶面板的液晶内的离子引起的多个峰值曲线，基于所述多个峰值曲线中与比最快的第一迁移率慢的第二迁移率对应的第二峰值曲线的分析结果来评价斑点产生风险，评价斑点产生风险包括：通过如下的计算过程，基于所述第二峰值曲线来计算所述第二迁移率的评价值：在用Aexp－12×t－tp2W2表示对所述第二峰值曲线进行拟合而得到的高斯函数的情况下，用1tp2、1W2、1tp或1W来计算所述第二迁移率的评价值，其中，t为时间，A为所述高斯函数的峰值与所述液晶面板的基值电流的差，W为以所述基值电流为基准的所述高斯函数的半高宽，tp为所述高斯函数的峰值时刻，将所述第二迁移率的评价值与规定值进行比较来评价斑点产生风险。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 天马日本株式会社 液晶面板的显示品质下降的评价方法及其装置

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