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【发明授权】基于样本分布密度改进KKT条件的SVM增量学习方法_南京航空航天大学_202110652246.7 

申请/专利权人:南京航空航天大学

申请日:2021-06-11

公开(公告)日:2024-04-16

公开(公告)号:CN113449779B

主分类号:G06F18/2411

分类号:G06F18/2411;G06N20/10

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.16#授权;2021.10.22#实质审查的生效;2021.09.28#公开

摘要:本发明公开了一种基于样本分布密度改进KKT条件的SVM增量学习方法,包括:获得分类器的支持向量集SV0与分类器的标准KKT条件Ⅰ;构建SVM分类器Modelold的改进KKT条件Ⅰ;判断新增样本集B中样本是否满足SVM分类器Modelold的标准KKT条件Ⅰ;对新增样本集B中样本进行二次判断,判断是否满足SVM分类器Modelold的改进KKT条件Ⅰ;由候选支持向量集SV1训练分类器Model1;计算满足分类器Model1的改进KKT条件Ⅱ;采用SV0∪SV1∪SVadd集合训练分类器并输出更新后的分类器Model2。本发明提出的基于样本分布密度改进KKT条件能够实现样本分布不均衡的情况下对新增样本的有效筛选,提高SVM增量学习算法的泛化能力。

主权项:1.一种基于样本分布密度改进KKT条件的SVM增量学习方法,其特征在于,步骤如下:1根据原始样本集Α训练SVM分类器Modelold,获得分类器Modelold的支持向量集SV0与标准KKT条件Ⅰ;2计算原始样本集Α中正、负类样本的样本分布密度,并根据样本分布密度计算正、负样本下的偏置参数,在标准KKT条件Ⅰ的基础上增加偏置参数,构建SVM分类器Modelold下针对正、负类样本自适应优化的改进KKT条件Ⅰ;3判断新增样本集B中样本是否全部满足SVM分类器Modelold的标准KKT条件Ⅰ,若全部满足,则输出原始SVM分类器Modelold即为所需模型,结束;否则将新增样本集B中违背标准KKT条件Ⅰ的样本放入集合B1,满足标准KKT条件Ⅰ的样本放入集合B2;4判断新增样本集B中样本是否满足SVM分类器Modelold的改进KKT条件Ⅰ,将满足改进KKT条件Ⅰ的样本放入候选支持向量集SV1;5根据候选支持向量集SV1训练分类器Model1,获得分类器Model1的标准KKT条件Ⅱ,利用支持向量集SV1的样本分布密度计算正、负样本下的偏置参数,获得增加偏置参数后的改进KKT条件Ⅱ;6判断集合B2是否满足改进KKT条件Ⅱ,若集合B2为空或所有样本均满足改进KKT条件Ⅱ,则输出更新后的模型即为分类器Model1,结束;否则将不满足改进KKT条件Ⅱ的样本放入补充支持向量集SVadd;7采用SV0∪SV1SVadd集合训练分类器Model2并输出更新后的分类器为Model2,SV0为原始分类器的支持向量集,SVadd为补充支持向量集;所述步骤2中根据样本分布密度计算正、负样本下的偏置参数,构建分类器Modelold的改进KKT条件Ⅰ的方法具体为:21假设原始训练集为原始样本集,正样本为负样本为样本集中正、负样本的类别中心分别为c+和c-,与表示正、负样本与类别中心之间的距离;22计算正、负样本集的样本分布密度ξ+与ξ-: 23计算正、负样本下的偏置参数δ+,δ-:δ+=1-ξ+,δ-=1-ξ-;24计算SVM分类器Modelold的改进KKT条件Ⅰ:|yifxi|≤1+δ=1+1-ξ,ξ∈[ξ+,ξ-]式中,N+表示正样本数,N-表示负样本数,max·表示距离最大值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京航空航天大学 基于样本分布密度改进KKT条件的SVM增量学习方法

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