申请/专利权人：上海涛影医疗科技有限公司

申请日：2024-02-20

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117898756A

主分类号：A61B6/58

分类号：A61B6/58

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：本发明涉及X射线摄影技术领域，公开了一种检测双平面影像链是否校正的方法，将所述剂量测量仪采集到的剂量参数与X光源发生器内部实际打出的剂量参数的对应值进行比较，判断所述X光源发生器是否校正；根据平板上产生的图像的灰度值标准差和灰度值均值判断所述平板是否校正；根据曝光剂量判断当前场的自动曝光控制是否校正；对检测盒进行三次X射线照射，计算每一次的束光器实际覆盖率并取极大值、极小值和平均值共同判断所述束光器是否校正；计算检测盒的穿透面上的铅珠在所述平板上成像的铅珠点和成像面上对应的铅珠的位置偏差来判断机架是否校正。本发明提供维护判断的统一性标准，评价结果会导致最终的成像质量，提高维护效率。

主权项：1.一种检测双平面影像链是否校正的方法，其特征在于，包括：S1：将检测盒固定在机架上，所述检测盒内设置有剂量测量仪，在所述检测盒的双平面上设置若干铅珠，所述双平面包括穿透面和成像面，所述穿透面靠近X光源发生器，所述成像面贴近平板；S2：对所述检测盒进行第一次X射线照射；S3：将所述剂量测量仪采集到的剂量参数与所述X光源发生器内部实际打出的剂量参数的对应值进行比较，判断所述X光源发生器是否校正；S4：计算所述平板上产生的图像的灰度值标准差和灰度值均值，并根据所述灰度值标准差和所述灰度值均值判断所述平板是否校正；S5：根据输入的曝光条件与所述剂量测量仪采集到的所述剂量参数计算出曝光剂量，根据所述曝光剂量判断当前场的自动曝光控制是否校正；S6：对所述检测盒进行第二次、第三次X射线照射，计算三次照射中每一次的束光器实际覆盖率并取极大值、极小值和平均值共同判断所述束光器是否校正；S7：计算所述穿透面上的铅珠在所述平板上成像的铅珠点和所述成像面上对应的铅珠的位置偏差，来判断所述机架是否校正。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海涛影医疗科技有限公司 一种检测双平面影像链是否校正的方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD