申请/专利权人：浙江利尔达物联网技术有限公司

申请日：2023-10-18

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117914420A

主分类号：H04B17/15

分类号：H04B17/15;H04B17/11;H04W24/08;H04B17/21;H04B17/29

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：本发明提出了一种LoRa终端设备射频性能测试及频率校准方法及系统，解决了现有LoRa终端设备组装完成后射频性能无法测试或测试成本高、测试误差大、不便于工厂化的问题，解决了产品由于频偏问题导致无法通讯或通讯距离近的问题，通过测试系统的多次交互测试，获取标准的LoRa终端设备在该测试系统中的发射TSSI参数和接收RSSI参数，根据参数范围给出测试指标范围并将其作为基准，将频偏值与通讯中心频率做运算处理，获取待测终端设备的晶振频偏值，并进行存储补偿，重复校准过程，直到频偏值符合要求完成频偏校准，使得该发明达到了增加测试精确度、简化测试流程的有益效果。

主权项：1.一种LoRa终端设备射频性能测试及频率校准方法，其特征在于，包括：S1：将标准的LoRa终端设备，即认为合格的LoRa终端设备放置于与射频检测设备天线距离1.0m的位置，通过多次通讯交互测试，获取标准的LoRa终端设备在该测试系统中的发射TSSI参数和接收RSSI参数，并以此为测试基准；S2：将待测LoRa终端设备上电后进入测试模式，使其进入接收状态；S3：射频检测设备控制LoRa芯片，使LoRa芯片按照测试要求配置参数进行配置，并与待测LoRa终端设备通讯交互；S4：通过待测LoRa终端设备的发射TSSI及接收RSSI参数与基准值对比，判断待测LoRa终端设备的发射和接收射频性能；S5：获取待测终端设备与射频检测设备之间的频偏值，进行频偏校准。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 浙江利尔达物联网技术有限公司 一种LoRa终端设备射频性能测试及频率校准方法及系统

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