买专利,只认龙图腾
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

【发明公布】一种高斯取向晶粒偏离角度的计算方法_包头钢铁(集团)有限责任公司_202311761641.4 

申请/专利权人:包头钢铁(集团)有限责任公司

申请日:2023-12-20

公开(公告)日:2024-04-19

公开(公告)号:CN117907366A

主分类号:G01N23/203

分类号:G01N23/203;G01N23/20008;G01N23/2251;G01N23/2202

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要:本发明提供了一种高斯取向晶粒偏离角度的计算方法,包括:选取经过脱碳退火后的高磁感取向硅钢作为试样;对试样依次进行剪切、打磨和抛光得到处理后的试样;对处理后的试样进行电解抛光得到电解抛光后的试样;对电解抛光后的试样进行EBSD检测得到试样的微观织构数据;利用Channel5软件对试样的微观织构数据进行分析,并用预设的颜色标定{110}001取向晶粒,同时记录标定完成的晶粒所对应的欧拉角度;计算出欧拉角度和高斯取向晶粒标准角度之间的差值得到相应试样的高斯取向晶粒偏离角度。本发明基于EBSD检测技术可精确计算初次再结晶后高斯织构偏离角度,为初次再结晶退火工艺的制定和后续取向硅钢高温退火过程的研究提供可靠的依据。

主权项:1.一种高斯取向晶粒偏离角度的计算方法,其特征在于,包括:步骤1:选取经过脱碳退火后的高磁感取向硅钢作为试样;步骤2:对所述试样依次进行剪切、打磨和抛光得到处理后的试样;步骤3:对所述处理后的试样进行电解抛光得到电解抛光后的试样;步骤4:对所述电解抛光后的试样进行EBSD检测得到试样的微观织构数据;步骤5:利用Channel5软件对试样的微观织构数据进行分析得到GrainBoundaries图和TextureComponent图,并用预设的颜色标定{110}001取向晶粒,同时记录标定完成的晶粒所对应的欧拉角度;步骤6:计算出标定完成的晶粒所对应的欧拉角度和高斯取向晶粒标准角度之间的差值得到相应试样的高斯取向晶粒偏离角度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 包头钢铁(集团)有限责任公司 一种高斯取向晶粒偏离角度的计算方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。